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目前在测试一份适配器课题,有一个问题想请教大家。
8 L& X6 Q2 l1 O: T设计初稿中,设定的RX与CX略大,导致时间常数T超过1s,不满足一次电路的电容放电要求。
# L* m0 {" p2 V: i' i9 s但得到反馈说,从EMC方面考虑他们并不想更改CX容值,所以将RX容值减小到了约1M Ohm。* k; _# D& J) e& g( V
根据标准950,适配器的的L-N之间应当满足功能绝缘,那么我如何验证将RX减小后是否满足功能绝缘呢?; v* q# q1 p% G! K- Z' N' d0 w0 S
我量过L-N间爬电距离与电气间隙,满足要求。& `$ v% `* W) C) x9 K# v0 L
L-N之间又没办法进行抗电强度测试(去掉Fuse的话,考察的是Fuse之前,那么对RX是否合格无法验证)9 O# C# A, y% y, O
也不能在电路中直接对RX进行短路试验(RX由3个同等规格的电阻串联构成,尚未进行短接单个电阻试验); |: f) R6 L2 o4 v
9 U8 ] W, b- h; k以上是对现象与个人分析的一些描述,希望各位帮忙解决疑惑,谢谢!* [; J$ Q! C# m0 f% m: G
我比较担心主要是同比参考065标准的话,L-N之间的RX不足2M Ohm,不满足初级绝缘电阻的要求。ITE 950中没有明文要求是不理会还是需要参考?1 V+ K b5 U0 k4 }; C1 f" A
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