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我只能解释这么多:
- B+ C% e# K/ G# K* DHAF和TAF是计算高湿和高温条件下寿命的加速倍率AF,Ea叫做激活能,K就是伟大的玻尔兹曼常数,使用这种方法的难处是Ea的确认。
7 Z) j8 A+ Q( k1 F! }" w举个例:对一般电子产品而言,多用高热加速。根据加速模型(Arrhenius Model),加速因子的表达式为:9 \% K: e4 @$ D0 x+ y4 f. u
AF=exp{(Ea/k)*[(1/Tu)-(1/Ts)]}; @5 I4 F" k, x9 J
上式中对湿度影响忽略,这样试验室配置要求与试验成本要低得多。6 y5 O$ W$ U* \# C6 ~
式中:. A" a- y& H& Y2 M4 K. {2 i9 E9 H3 e
Ea:激活能,这里取值为1.0eV;(其实我当时是............的,其实应为0.8eV,呵,呵,呵~)0 X& A8 q! D. K
k:玻尔兹曼常数,k=8.6*10E-5 eV/K;
1 W% o; Y$ [: T' N2 ?, V5 H' ITu:常态时的绝对温度,这里取值为30℃即303K,选取较高的常态温度是结合产品的预期使用条件确定;* p' c6 Q. y/ x* W6 R. {
Ts:加速态时的绝对温度,这里取值为60℃即333K;
0 g+ ^3 H) e6 o8 d经计算,AF=31.7
7 J; r* o& q# [4 B) G& P所以加速条件下,MTTF(不能修的应叫MTTF不叫MTBF)取值为200000小时,总的测试时间为778000h/AF=24516h。(778000h来自可靠性试验手册,置信度为60%,还是90%?我也不记得了)
) r, t5 z2 _) p: f( r8 K2 H: C若取30片进行试验,试验时间为24516h/30=817h=34天。& A5 `# |' _$ T+ N
从上述计算结果表面上,MTTF取值为20万小时,取30片进行试验,常态下测试时间为25900h约三年。意味着每30片连续满负载工作三年,出现失效的不超过1片。4 A5 a7 l9 w- F9 B2 F8 d
(搜索一下Arrhenius Model,有激活能选取的例子) |
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