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我只能解释这么多:
[! Y1 ]2 Y! o) q9 T6 R$ ?HAF和TAF是计算高湿和高温条件下寿命的加速倍率AF,Ea叫做激活能,K就是伟大的玻尔兹曼常数,使用这种方法的难处是Ea的确认。) \: h4 c" H) h, P5 \; `
举个例:对一般电子产品而言,多用高热加速。根据加速模型(Arrhenius Model),加速因子的表达式为:# |8 f, ?- R4 P0 s3 Z
AF=exp{(Ea/k)*[(1/Tu)-(1/Ts)]}) q- i* u D, |$ _/ i% ?
上式中对湿度影响忽略,这样试验室配置要求与试验成本要低得多。0 ]8 f: j( Y* _; S
式中:9 F0 N" X) ]! P0 K
Ea:激活能,这里取值为1.0eV;(其实我当时是............的,其实应为0.8eV,呵,呵,呵~)
) x; ]8 v3 }: O+ ek:玻尔兹曼常数,k=8.6*10E-5 eV/K;! s! x0 Y \' M$ q; `5 `0 D9 J; [
Tu:常态时的绝对温度,这里取值为30℃即303K,选取较高的常态温度是结合产品的预期使用条件确定;" g3 ~3 q! F$ O1 f7 P2 j7 A* C
Ts:加速态时的绝对温度,这里取值为60℃即333K;. P' a" g( I9 d$ w, y6 D( U
经计算,AF=31.7$ a. a0 h( S4 B7 M
所以加速条件下,MTTF(不能修的应叫MTTF不叫MTBF)取值为200000小时,总的测试时间为778000h/AF=24516h。(778000h来自可靠性试验手册,置信度为60%,还是90%?我也不记得了)
& r4 N3 j d! h1 _3 e9 e/ W若取30片进行试验,试验时间为24516h/30=817h=34天。
7 z5 o, P0 h* M+ m& l- ]+ l从上述计算结果表面上,MTTF取值为20万小时,取30片进行试验,常态下测试时间为25900h约三年。意味着每30片连续满负载工作三年,出现失效的不超过1片。9 a, L% W. f7 g# p$ X, r
(搜索一下Arrhenius Model,有激活能选取的例子) |
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