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[电源产品] IEC 62368-1 耐电压测试方法 ?

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楼主
发表于 2022-4-1 11:46 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
广东安规检测
有限公司提供:
我司产品如下图 :2 `" u* y7 D1 v& S1 \/ C
" L6 h+ R$ y. x; f3 s

1 @0 @& g4 J# t1 y4 `5 I1 n
9 h  {$ m$ P& i6 C( u机构测试耐电压3000V(L、N极短路与USB输出或Type-C输出之间),出现光耦击穿,测试不合格 。$ r1 @+ C* ^( E# k

" r; `6 \* T' B2 m0 R$ Q请教各位大神,机构这样测试是否正确?  ~+ t+ L; K$ i6 |; ]

/ N. }5 g+ M; z1 e另外线路板供应商提出的测试方法:是需要将USB与Type-C短路作为一极,LN短路作为一极,进行耐电压测试?7 w3 X' M7 r  |9 X* D' d
# a8 v0 z$ F: i3 l* {
那种方法正确?标准IEC 62368-1 5.4.9条款也没有明确说明 。; A  {  f; g4 N6 I9 G4 Z
% G3 ~3 n3 k8 x* b
请各位大神帮忙释疑,谢谢 !3 a! C1 n9 q$ O! F5 o; b7 |' B
沙发
 楼主| 发表于 2022-4-2 08:14 | 只看该作者
大神在哪里?
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板凳
发表于 2022-4-2 08:45 | 只看该作者
方法应该没问题,都是把电源的LN短接作为一极,输出作为另一极

点评

恩,是这样的。但是有两个输出口USB和Type-c ,这两个口是短路作为一极,还是单独一个输出口作为一极呢?  详情 回复 发表于 2022-4-2 08:49
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地板
 楼主| 发表于 2022-4-2 08:49 | 只看该作者
本帖最后由 huiai 于 2022-4-2 08:50 编辑 , ]6 _2 o; i  f( l% t
af204 发表于 2022-4-2 08:45
& I, E3 d! S" \6 b1 o1 p  A3 G方法应该没问题,都是把电源的LN短接作为一极,输出作为另一极

4 H7 A2 A- C/ |9 P, C2 g) h$ X恩,是这样的。但是有两个输出口USB和Type-c ,这两个口是短路作为一极,还是单独一个输出口作为一极呢?

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两个端口都需要打的,如果样品本身不行,打哪里都是会击穿的  详情 回复 发表于 2022-4-2 09:17
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5#
发表于 2022-4-2 09:17 | 只看该作者
huiai 发表于 2022-4-2 08:49
) f+ J) q9 T$ |- G恩,是这样的。但是有两个输出口USB和Type-c ,这两个口是短路作为一极,还是单独一个输出口作为一极呢?
0 e. }8 X- d' u& Z
两个端口都需要打的,如果样品本身不行,打哪里都是会击穿的

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两个输出口短路作为一极,测试是可以通过的 。但是,单独对一个输出口,打3000V高压,就会出现击穿 。  详情 回复 发表于 2022-4-2 10:06
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6#
 楼主| 发表于 2022-4-2 10:06 | 只看该作者
45550629 发表于 2022-4-2 09:17) [+ j. B, C$ p1 o# Z) Y
两个端口都需要打的,如果样品本身不行,打哪里都是会击穿的

/ h+ E: G! Z4 h: c4 ^两个输出口短路作为一极,测试是可以通过的 。但是,单独对一个输出口,打3000V高压,就会出现击穿 。
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7#
发表于 2022-4-6 08:23 | 只看该作者
本帖最后由 rocknan 于 2022-4-6 08:24 编辑 & y7 L7 y# z& i- r

( @& c( `! J$ o5 p方法大致上沒錯
* W- g& E$ W* p7 W/ g4 F3 v+ }1, L/N to secondary (打 Double/ Reinforced )& d- _6 V7 {2 C  ?- F
   L跟N捆一起(做為一級) 打到 Secondary(2次側, ELV側, SELV側)
3 {  w- ]2 x5 O   Secondary 可以所有I/O port捆一起打, 也可以一個一個 I/O port 打, N7 g. A! O# M" l; }
   打 Secondary I/O port 的時候, 如果I/O port 的GND pin 會造成 絕緣 降為 Basic
3 e. A( T( v, k6 w+ u   哪就要把 GND pin 挑出來不要一起打 (這個很重要)& z; c: F0 h( y5 X3 C
   好彼說: USB2.0 port 有4pins (pin1: 5Vdc, pin2,3: data pins, pin4: GND), : f* X- m7 [1 q! L% o
   很多人都會4個pin捆在一起當 Secondary 一起打0 h9 J# U- g- I  Q. W
   但是 pin4: GND 可能是跟 一次側的 Earth 有連接, 導致 pin4: GND 對 L/N 是 Basic
' `& ]  a5 `5 Y" h   那 把 4個pin 捆在一起時, 等於是把 pin4: GND (Basic), 拿來試驗Double/ Reinforced的電壓
: _- f( A- S: J, g! a, T   要注意7 t# s1 F6 u4 d$ v
2, L/N to plastic enclosure.
' a7 s6 P# G2 S8 O6 ~.1 r+ T  U. C7 q9 i
還有, 如果 3000Vac 打不過, 可以打4242Vdc 看看
7 D: {" t( Q' F有時候 AC電壓打不過, 但是DC電壓打得過
$ z0 g6 p+ r+ U(那是零件特性問題)8 A" g1 {5 Z4 D2 L

/ E7 m5 ?* s& p8 w$ [! |- c

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OK , 谢谢您!  详情 回复 发表于 2022-4-6 14:10
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8#
 楼主| 发表于 2022-4-6 14:10 | 只看该作者
rocknan 发表于 2022-4-6 08:231 F$ C5 q" G' h1 e# K% q- q% p7 K
方法大致上沒錯
, T. ]" `  Z( k8 q5 C/ l( O1, L/N to secondary (打 Double/ Reinforced )7 e6 _0 Q7 t/ C8 ~1 k5 b* J' a8 t
   L跟N捆一起(做為一級) 打到 Secondary ...

/ L( ?* ?0 O0 w3 U" L1 Z( iOK , 谢谢您!
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9#
发表于 2022-4-6 20:11 | 只看该作者
点赞 Rocknan
9 D* k1 [- J9 P" ^, i不过从图上看, 这个产品非CLASS 1 设备。 pin 4(GND) 没有可靠及低阻抗连接至 Earth.  故3KVac or DC 不能PASS ,还是应判NG。

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對阿, 如果 該注意的有注意到, 測試方法也沒錯, 那該是NG 就是NG , 哈~  详情 回复 发表于 2022-4-7 13:00
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10#
发表于 2022-4-7 13:00 | 只看该作者
Berryang 发表于 2022-4-6 20:115 l( f6 o7 {; f+ z8 H( @% P
点赞 Rocknan 4 x9 ^9 {$ |0 X/ }8 o
不过从图上看, 这个产品非CLASS 1 设备。 pin 4(GND) 没有可靠及低阻抗连接至 Earth.  故3 ...

8 U, F/ }. }4 ?( d對阿, 如果 該注意的有注意到, 測試方法也沒錯, 那該是NG 就是NG , 哈~
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