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[美洲灯具] 关于1598标准的理解

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楼主
发表于 2021-11-29 15:10 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
广东安规检测
有限公司提供:
各位大神,
, T. P/ m/ T4 ^) ]/ ^( \              大家是怎么理解UL1598这18.16段话的?(我用红色标识了)
; V: l9 q8 w! [# p, ]6 T
1 e- |8 y/ R8 U/ a1 z! w6 w9 S
) F3 y% s5 ?) a+ z7 q- {+ J( U
3 \/ x  }! f" S- j- ~18.1 Dielectric voltage-withstand! M1 `- N# g8 u+ r) }
18.1.1 The dielectric voltage-withstand test apparatus shall be in accordance with Clause 19.20.
1 h! i1 P9 h% V18.1.2 A luminaire shall withstand for a period of 1 minute, without breakdown, a test potential applied3 E) f) \; ~3 V
between live parts and accessible non-current-carrying metal parts, including parts accessible only during
: o( g. I; Q! a, p7 s* I) j. `relamping.! Q8 T1 {& j% m
18.1.3 The test potential shall be 1000 V AC for incandescent-type luminaires and 1000 V AC plus twice
+ V( ]2 W+ h9 Z4 r7 ]  y$ g3 dthe rated input voltage for all other types of luminaire. The test may be conducted using a DC potential at; j* ]4 Q; {7 l2 s9 ~
1.414 times the AC potential denoted above.
$ T, s( ?8 c7 Q18.1.4 The applied potential shall be gradually increased from zero at a uniform rate until the required3 u5 p3 j( ?5 A- ?1 O5 q
test value is reached or breakdown occurs. During the test, any switches or other controls shall be in the6 I9 d1 n4 l/ A% @
ON position.
5 e& e, e5 S+ ], F0 s) G/ {18.1.5 The test shall be performed on a fully assembled luminaire. Non-current-carrying parts or2 N* N+ u! R  w: R" Y2 R9 V
decorative parts not likely to become energized shall not be required to be in place.
8 L2 ?8 v$ n5 t- R18.1.6 Solid state components that are not relied upon to reduce the risk of electric shock and that can) O4 h- [) A9 ?- c) O% B: D
be damaged by the applied dielectric potential may be disconnected for the test. The circuitry may be  v5 N0 c/ {$ Y
rearranged for the purpose of the test to reduce the likelihood of solid state component damage while
/ [6 w/ N2 U" C6 |2 J( l1 Z3 uretaining the representative dielectric stress on the circuit.$ _  t; ^8 t8 k$ `- f

4 c3 s3 T0 X9 @- z
沙发
发表于 2021-12-3 16:20 | 只看该作者
不用于降低触电风险和有可能被试验电压击穿的components允许在实验中断开连接。为了达到试验的目的,可重新布置电路,以降低固态部件损坏的可能性,同时保持电路上原有的介电特性。

点评

哥们,你这个还是很官方解读,可以通俗易懂一点不?或者举一个例子更好  详情 回复 发表于 2021-12-17 17:23
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板凳
 楼主| 发表于 2021-12-17 17:23 | 只看该作者
Lt-maker 发表于 2021-12-3 16:20
  i2 }& {/ t- I1 [不用于降低触电风险和有可能被试验电压击穿的components允许在实验中断开连接。为了达到试验的目的,可重新 ...
3 t2 V9 Y: l" N9 g) s' A# k
哥们,你这个还是很官方解读,可以通俗易懂一点不?或者举一个例子更好
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地板
发表于 2021-12-29 08:14 | 只看该作者
比如:耐压测试前,可以先把灯具上LED 灯板上的输入线(也就是LVLE/CLASS 2电源的输出线)断开,然后进行LN/E的耐压测试。
! ^! J6 I( o% ]0 C: }% W0 Z; e5 ?注:阻容降压、线性方案以及其它非隔离电源是不可以断开的。
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5#
发表于 2021-12-29 08:27 | 只看该作者
耐压容易伤及到元件,但是又不依赖他来降低防触电的,比如很多信号处理IC,他可能打耐压会打坏,但是他对降低触电风险没有任何意义,那么,打耐压前可以把他断开来测试。
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6#
发表于 2022-1-4 13:24 | 只看该作者
多谢详细解说,明白了,谢谢!
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7#
发表于 2022-5-12 15:30 | 只看该作者
正好需要,学习了
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8#
发表于 2024-10-23 10:16 | 只看该作者
学习了,学习了
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