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[美洲灯具] 关于1598标准的理解

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楼主
发表于 2021-11-29 15:10 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
广东安规检测
有限公司提供:
各位大神,
/ S$ b+ l6 U, ^0 v              大家是怎么理解UL1598这18.16段话的?(我用红色标识了)
) z9 f' P/ w6 `" Q+ j* E8 `
; x( a7 ~0 l( w, l* H6 \! S, K1 @: L# a  ~6 H6 P2 h
  r* k5 A8 g) A' S% L. Z, Z) ]
18.1 Dielectric voltage-withstand
: X- }8 Y& e  b) T0 @# ~- ~) R18.1.1 The dielectric voltage-withstand test apparatus shall be in accordance with Clause 19.20.! A/ K8 T$ Q' U1 _
18.1.2 A luminaire shall withstand for a period of 1 minute, without breakdown, a test potential applied0 C' [/ Q8 j+ O: ^2 y$ f  t9 |0 p
between live parts and accessible non-current-carrying metal parts, including parts accessible only during4 h3 z8 I2 H' V. e# i# m. O* F
relamping.8 Z+ e. v2 m2 `& m0 s* l! i
18.1.3 The test potential shall be 1000 V AC for incandescent-type luminaires and 1000 V AC plus twice
) ^( c) L2 c$ H9 }  P' J- Cthe rated input voltage for all other types of luminaire. The test may be conducted using a DC potential at
" U0 A) L/ Y: C' j6 I0 D1.414 times the AC potential denoted above.  D% h+ P$ H6 i. f! q
18.1.4 The applied potential shall be gradually increased from zero at a uniform rate until the required
7 S8 E' |( j5 ?9 ^test value is reached or breakdown occurs. During the test, any switches or other controls shall be in the, f# g  P. W5 @. o3 K
ON position.
3 w# C  i3 T* o8 Y4 R# y( [18.1.5 The test shall be performed on a fully assembled luminaire. Non-current-carrying parts or
" S  c7 r& P+ a( F5 \decorative parts not likely to become energized shall not be required to be in place.7 |% ~  x& ^( h% @* G+ F
18.1.6 Solid state components that are not relied upon to reduce the risk of electric shock and that can
% ~) y4 Q5 Z+ Fbe damaged by the applied dielectric potential may be disconnected for the test. The circuitry may be6 J: v7 ?- @  L' W
rearranged for the purpose of the test to reduce the likelihood of solid state component damage while- e* F$ H( t& ^, y) i1 Q, G
retaining the representative dielectric stress on the circuit.$ w* a% ~  q0 w" I+ C& \

5 X9 A% M  y- W2 a1 B+ e! ^2 M
沙发
发表于 2021-12-3 16:20 | 只看该作者
不用于降低触电风险和有可能被试验电压击穿的components允许在实验中断开连接。为了达到试验的目的,可重新布置电路,以降低固态部件损坏的可能性,同时保持电路上原有的介电特性。

点评

哥们,你这个还是很官方解读,可以通俗易懂一点不?或者举一个例子更好  详情 回复 发表于 2021-12-17 17:23
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板凳
 楼主| 发表于 2021-12-17 17:23 | 只看该作者
Lt-maker 发表于 2021-12-3 16:20* R, t0 K- A5 {. Z# Z3 G. L
不用于降低触电风险和有可能被试验电压击穿的components允许在实验中断开连接。为了达到试验的目的,可重新 ...
* {( Q2 t. T. m- S, K5 n
哥们,你这个还是很官方解读,可以通俗易懂一点不?或者举一个例子更好
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地板
发表于 2021-12-29 08:14 | 只看该作者
比如:耐压测试前,可以先把灯具上LED 灯板上的输入线(也就是LVLE/CLASS 2电源的输出线)断开,然后进行LN/E的耐压测试。
( q( \9 L0 P( {2 k' _+ G1 D注:阻容降压、线性方案以及其它非隔离电源是不可以断开的。
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5#
发表于 2021-12-29 08:27 | 只看该作者
耐压容易伤及到元件,但是又不依赖他来降低防触电的,比如很多信号处理IC,他可能打耐压会打坏,但是他对降低触电风险没有任何意义,那么,打耐压前可以把他断开来测试。
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6#
发表于 2022-1-4 13:24 | 只看该作者
多谢详细解说,明白了,谢谢!
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7#
发表于 2022-5-12 15:30 | 只看该作者
正好需要,学习了
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8#
发表于 2024-10-23 10:16 | 只看该作者
学习了,学习了
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