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[UL认证] UL工程师初次来实验室

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楼主
发表于 2008-4-21 20:21 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
广东安规检测
有限公司提供:
UL工程师初次来第三方认证实验室目击时,需要对仪器校准吗?特别是对电源校准。是不是要测试电源的压降,具体怎样操作?
沙发
发表于 2008-4-21 20:37 | 只看该作者
这么说,你们有申请WTDP吗?
板凳
发表于 2008-4-21 21:14 | 只看该作者
1.对电源系统的审核:
" B* ?) X, V- i$ \8 F2 L包括谐波失真,电压变动率,短路电流测试,断路器是否是UL Listed 产品等等.+ v: m) y  y( P" p1 E- L# X" D
2.仪器校准;2 a* \4 j$ D0 d& X& Z1 n
包括校准证书上的CNAS标志,误差率是否在UL规定的范围内.,热电偶是否有校准.2 o- H9 m( c- Q3 g# L$ l) k. Y
还有的,暂时不记得了,明天查了再说.
地板
发表于 2008-4-22 14:22 | 只看该作者
TUV,UL在做第一次目击前,都会有一个实验室WTDP资格审核的.
- U# ~( N. f( g1 w2 H: r审核可以与测试可以同时进行
5#
发表于 2008-4-22 14:37 | 只看该作者
刚好前段时间做过UL审核,见附件。具体操作就是在三个电压情况下带载与不带载的情况下测压降,谐波失真,一般都没多大问题,就是要准备好阻性负载(热得快,灯泡都可以)。
6#
发表于 2008-4-22 16:34 | 只看该作者
忘放附件了。' x* F' R& W7 r' y

' O6 }8 Y8 q4 _+ ^: @怎么放不上附件啊?
7#
发表于 2008-4-22 17:24 | 只看该作者
因为用的是快速发贴,所以没那个功能' Y  J1 L2 D8 b4 P, q7 l0 k
用下修改功能,里面有提示加附件
8#
发表于 2008-4-23 09:13 | 只看该作者
我选了啊,但是也弄不上去。
* j0 A  ]- _$ \! O; e1 A* a: @3 r2 |# R$ B  G( Q; `6 ]8 ]. |6 x
00-0P-C0036
( e' l1 n; Y8 ~( _9 b* v) `3 Q3 [LABORATORY – POWER QUALITY - FOR DAP CLIENTS
0 J3 ^. e/ g0 w5 G; p. T* t' X+ D4 L5 E( _& n/ g4 R- P
5 i5 v- y0 u+ K' F
         Approval and Revision History Table:
- K( P% b, U- v# ~5 Y# }& R   
& }& o* f& A' i) v2 c* W. b, j! \5 Y
0 R3 k5 N7 w3 B; D
8 I' e: [5 F+ B2 F+ c! WREVISION 2.0 DETAIL , R! E) Q* w: p7 E
Modified Appendix A to indicate power quality measurements are to be made on 120V 60Hz, 240V 60Hz and 230V 50Hz test power prior to any testing and align criteria with CTL-OP-0110.  
% h1 ^6 h9 G# K* W' rClarified circuits with larger power capacity are to be monitored during tests, or verified annually to confirm requirements with the test standard.  . s/ L: L5 x0 k" ?+ Q- v; K
Clarified higher power circuits are to be validated when deemed necessary by UL when the test standard does not provide power quality requirements.  4 j  T' y8 Q3 \( l7 z8 n9 v
Clarified the “Frequency stability” test is performed when frequency converters provide test power.  
# j8 M8 f2 D7 W$ L9 ]& bModified method for “Independence of Test Circuits” to state measurements are to be repeated with high demand loads turned off if it is suspected that these loads affect power quality in test circuits.  
( X, X" ^( p. D* t. r3 w9 KCorrected typo in “Results” from FOC max to Floaded max% O" d$ k+ R! q' T7 [, L  h
Title: DAP Process Owner
9 }' W! m# C' C1 d(Document Owner)
: Q9 C) N7 f, t5 UName: Jodine Hepner-2008/1/6    Title: Senior Staff Engineer
% ~& F4 c; O/ E, Y. O1 g! `: a) O (Originator)
* n1 S# T8 g1 I9 x: f0 ]2 S8 gName: Jeff Hall-    Title: Global Chief Engineer NACPO, x  y7 P( \. N3 f; u1 U
2 k3 R* G) }$ o% h8 D
Name: William R. Carney-2007/12/26    Title: Director Global CAS Operations and Engineering2 C+ X  X6 h& U- t3 d  \# v5 T
Approver
! m/ a! Q4 y5 G8 A, _& c( FName Raymond Burg-2007/12/18
8 t* D- \: J5 NDirector Test & Laboratory Compliance8 H! V: d/ `  I) j2 x
Name  Jeff Schutt-2007/12/19    Title
: [5 H' l& J# E6 u* rName    Title8 B* P6 x5 w' I4 ?) `2 m
Name     Title( [4 S# ^  I# g) E" s
Name; m# P6 p+ x" e4 j
Previous Approval & Revision History Tables are available on the Document Container.
9#
发表于 2008-4-23 10:12 | 只看该作者
UL一般要求设备的计量周期是一年
头像被屏蔽
10#
发表于 2008-4-23 12:18 | 只看该作者
提示: 作者被禁止或删除 内容自动屏蔽
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