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[美洲灯具] UL球泡灯耐压事宜

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楼主
发表于 2015-4-29 21:43 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
广东安规检测
有限公司提供:
各位大侠:
1 i& l5 z9 c% G2 ~) r  O# a
  {5 w" N$ x5 B; Q) H, E4 t" wUL1993中,对于LED球泡灯耐压测试如下这段话怎么理解:因为我司的LED球泡灯打直流时LED也会坏掉,是否按照这个要求进行每天进行抽检就行了,不用100%全检??) K7 ]6 d- t% o" Q, ~, H

1 h5 w+ a. V% f9 D# V! m  nThe test may be performed before final assembly if the test represents the completed product.
+ C0 k- P) \6 R9 u+ MD.1.5 A device employing a solid-state component that is not relied upon to reduce a risk of electric shock
; j" M$ h6 ~/ \! ^+ u9 |( ?and that can be damaged by the dielectric potential may be tested before the component is electrically  K% Z* n( H; Z& K% k
connected provided that a random sampling of each day’s production is tested at the potential specified
$ x# `' M) r. Yin Table D.1. The circuitry may be rearranged for the purpose of the test to reduce the likelihood of6 B0 z/ H) H$ B  G6 V
solid-state component damage while retaining representative dielectric stress of the circuit.
沙发
 楼主| 发表于 2015-4-30 14:51 | 只看该作者
不好意思,贴错图了,应该是这段话' O, X1 o: e' J% x' c  n
D.1.5 A device employing a solid-state component that is not relied upon to reduce a risk of electric shock
5 O+ a1 R/ q& P% c6 U1 {. B$ kand that can be damaged by the dielectric potential may be tested before the component is electrically1 E- A( x5 m, s2 j. V1 }! q
connected provided that a random sampling of each day’s production is tested at the potential specified
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solid-state component damage while retaining representative dielectric stress of the circuit.
1 W, [7 o4 E9 Z! u3 l9 F8 f
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