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[美洲灯具] 关于1598标准的理解

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楼主
发表于 2021-11-29 15:10 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
广东安规检测
有限公司提供:
各位大神,; _$ g" E( K  ?. o1 d3 P/ w7 A
              大家是怎么理解UL1598这18.16段话的?(我用红色标识了)9 C/ z  K2 {. H! J
, L) }$ ^1 K" C( ?8 Z1 S$ F& P; M

( F# z6 ?! @- s* h% p* x! H2 Y9 [/ f/ `$ d* ?, y) e2 S
18.1 Dielectric voltage-withstand
) _5 D  _  _( m# u1 U18.1.1 The dielectric voltage-withstand test apparatus shall be in accordance with Clause 19.20.
1 ?" I+ a7 `' t) [# t' M18.1.2 A luminaire shall withstand for a period of 1 minute, without breakdown, a test potential applied
  f0 c' S9 k  u- i" e4 f" ibetween live parts and accessible non-current-carrying metal parts, including parts accessible only during
4 K5 @! W' V. U" p* |; L- B, erelamping.
& H$ y: U5 {( x- c18.1.3 The test potential shall be 1000 V AC for incandescent-type luminaires and 1000 V AC plus twice
8 a9 w& U) S. F) O5 G# Sthe rated input voltage for all other types of luminaire. The test may be conducted using a DC potential at
2 s9 @! z% o; O) y3 C- r: j7 M1.414 times the AC potential denoted above.8 O. ]' `$ }4 l2 H- ?/ z6 j( L( Z
18.1.4 The applied potential shall be gradually increased from zero at a uniform rate until the required0 t$ Z; v. h8 U  ]2 Q7 X; r: `' l, w
test value is reached or breakdown occurs. During the test, any switches or other controls shall be in the
7 R, ^0 s- I5 ~& ]5 \ON position.
  r* g/ p! A  f18.1.5 The test shall be performed on a fully assembled luminaire. Non-current-carrying parts or" }* X9 y9 `$ _6 N1 m; J
decorative parts not likely to become energized shall not be required to be in place.; T  R8 y7 j$ n8 W3 r6 G+ j
18.1.6 Solid state components that are not relied upon to reduce the risk of electric shock and that can8 r1 U  L& @4 M* E! E! e7 h4 h- Z
be damaged by the applied dielectric potential may be disconnected for the test. The circuitry may be: Q) e4 p9 X/ [+ T, {! f
rearranged for the purpose of the test to reduce the likelihood of solid state component damage while9 ?2 V' c/ G8 ]. G4 [' w* @
retaining the representative dielectric stress on the circuit.8 `& L3 ?  K* M/ o9 ~! g) Q7 H
2 g; n% ^" K6 ^- W% o& G: @0 Q
沙发
发表于 2021-12-3 16:20 | 只看该作者
不用于降低触电风险和有可能被试验电压击穿的components允许在实验中断开连接。为了达到试验的目的,可重新布置电路,以降低固态部件损坏的可能性,同时保持电路上原有的介电特性。

点评

哥们,你这个还是很官方解读,可以通俗易懂一点不?或者举一个例子更好  详情 回复 发表于 2021-12-17 17:23
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板凳
 楼主| 发表于 2021-12-17 17:23 | 只看该作者
Lt-maker 发表于 2021-12-3 16:203 v- U/ f, B/ o, P6 V* @; r, Z$ g
不用于降低触电风险和有可能被试验电压击穿的components允许在实验中断开连接。为了达到试验的目的,可重新 ...

8 {. e- y' z9 c2 p4 J6 J哥们,你这个还是很官方解读,可以通俗易懂一点不?或者举一个例子更好
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地板
发表于 2021-12-29 08:14 | 只看该作者
比如:耐压测试前,可以先把灯具上LED 灯板上的输入线(也就是LVLE/CLASS 2电源的输出线)断开,然后进行LN/E的耐压测试。: H# ?9 o  B" C3 n/ [
注:阻容降压、线性方案以及其它非隔离电源是不可以断开的。
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5#
发表于 2021-12-29 08:27 | 只看该作者
耐压容易伤及到元件,但是又不依赖他来降低防触电的,比如很多信号处理IC,他可能打耐压会打坏,但是他对降低触电风险没有任何意义,那么,打耐压前可以把他断开来测试。
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6#
发表于 2022-1-4 13:24 | 只看该作者
多谢详细解说,明白了,谢谢!
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7#
发表于 2022-5-12 15:30 | 只看该作者
正好需要,学习了
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8#
发表于 2024-10-23 10:16 | 只看该作者
学习了,学习了
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