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我只能解释这么多:4 [* g$ t6 V3 F/ H% h
HAF和TAF是计算高湿和高温条件下寿命的加速倍率AF,Ea叫做激活能,K就是伟大的玻尔兹曼常数,使用这种方法的难处是Ea的确认。
) O# ^0 f5 n3 n7 W举个例:对一般电子产品而言,多用高热加速。根据加速模型(Arrhenius Model),加速因子的表达式为:
! B4 d. i0 F1 B$ m8 Q, p7 e% |& {AF=exp{(Ea/k)*[(1/Tu)-(1/Ts)]}; x" F7 z# F X, ?1 L
上式中对湿度影响忽略,这样试验室配置要求与试验成本要低得多。
% Z6 b! T7 `" a8 q2 Z) [& i2 K/ V式中:- y- X& t0 e- n# d. S
Ea:激活能,这里取值为1.0eV;(其实我当时是............的,其实应为0.8eV,呵,呵,呵~)
4 F* P2 k! h! H, E' {; I" T% @! zk:玻尔兹曼常数,k=8.6*10E-5 eV/K;" J3 ^2 n+ h: ^
Tu:常态时的绝对温度,这里取值为30℃即303K,选取较高的常态温度是结合产品的预期使用条件确定;
: U) F3 L1 N0 C/ R! i1 kTs:加速态时的绝对温度,这里取值为60℃即333K;
. f: E+ y( n M6 F6 ?: R5 p经计算,AF=31.7
5 o, C6 \. P* T/ f' v& v2 c所以加速条件下,MTTF(不能修的应叫MTTF不叫MTBF)取值为200000小时,总的测试时间为778000h/AF=24516h。(778000h来自可靠性试验手册,置信度为60%,还是90%?我也不记得了), r) b5 z/ b$ u, q6 b, a
若取30片进行试验,试验时间为24516h/30=817h=34天。
! b5 b/ U6 j8 s, ]从上述计算结果表面上,MTTF取值为20万小时,取30片进行试验,常态下测试时间为25900h约三年。意味着每30片连续满负载工作三年,出现失效的不超过1片。
f. H$ V: |7 q$ U& K* [" U, \ C(搜索一下Arrhenius Model,有激活能选取的例子) |
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