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[美洲灯具] 关于1598标准的理解

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楼主
发表于 2021-11-29 15:10 | 只看该作者 回帖奖励 |正序浏览 |阅读模式
广东安规检测
有限公司提供:
各位大神,
- |8 A6 V% N5 X  d* Q8 q              大家是怎么理解UL1598这18.16段话的?(我用红色标识了)
& j) W& A/ T& t: @& B6 O, h% q6 z# s5 s' o. D2 z
. j( r1 j3 i0 F6 F$ X
0 W0 g7 c9 Q7 E1 \
18.1 Dielectric voltage-withstand
% [2 [; N5 F  Q18.1.1 The dielectric voltage-withstand test apparatus shall be in accordance with Clause 19.20.  V; d. ^( x% `8 C
18.1.2 A luminaire shall withstand for a period of 1 minute, without breakdown, a test potential applied6 B$ A$ ?2 h% n  O0 |
between live parts and accessible non-current-carrying metal parts, including parts accessible only during% d5 E: J- S! E8 ]7 \
relamping.
  H- _! u4 i' y& e. h! t18.1.3 The test potential shall be 1000 V AC for incandescent-type luminaires and 1000 V AC plus twice6 P$ ?9 N& z& ^/ W6 \: `. V
the rated input voltage for all other types of luminaire. The test may be conducted using a DC potential at
) ~8 T2 b) M4 ^$ x1 \4 \* R3 }4 Q1.414 times the AC potential denoted above./ \1 n0 Z- S* a0 t  w3 o! |
18.1.4 The applied potential shall be gradually increased from zero at a uniform rate until the required
5 M( _# C# T6 Y- d: E: _8 p7 {test value is reached or breakdown occurs. During the test, any switches or other controls shall be in the# b/ a2 d1 q  d% Q  b
ON position." S2 o8 r! V4 L& k7 r3 h. d
18.1.5 The test shall be performed on a fully assembled luminaire. Non-current-carrying parts or" x) ?( [# t2 R9 v5 r7 l- }# t
decorative parts not likely to become energized shall not be required to be in place.: O3 }; Q' J, z$ L. y9 |
18.1.6 Solid state components that are not relied upon to reduce the risk of electric shock and that can9 }4 o1 I+ Y  I
be damaged by the applied dielectric potential may be disconnected for the test. The circuitry may be
! }& v+ L( {  P# n$ ]1 _5 krearranged for the purpose of the test to reduce the likelihood of solid state component damage while4 v/ L' G+ R5 _* d/ R0 V. O. K7 e
retaining the representative dielectric stress on the circuit.- z, \4 j- q2 t
& V1 g2 x6 c2 K) i, I
8#
发表于 2024-10-23 10:16 | 只看该作者
学习了,学习了
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7#
发表于 2022-5-12 15:30 | 只看该作者
正好需要,学习了
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6#
发表于 2022-1-4 13:24 | 只看该作者
多谢详细解说,明白了,谢谢!
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5#
发表于 2021-12-29 08:27 | 只看该作者
耐压容易伤及到元件,但是又不依赖他来降低防触电的,比如很多信号处理IC,他可能打耐压会打坏,但是他对降低触电风险没有任何意义,那么,打耐压前可以把他断开来测试。
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地板
发表于 2021-12-29 08:14 | 只看该作者
比如:耐压测试前,可以先把灯具上LED 灯板上的输入线(也就是LVLE/CLASS 2电源的输出线)断开,然后进行LN/E的耐压测试。
/ ^' I; M" w- C) t注:阻容降压、线性方案以及其它非隔离电源是不可以断开的。
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板凳
 楼主| 发表于 2021-12-17 17:23 | 只看该作者
Lt-maker 发表于 2021-12-3 16:20+ U- s- O  S( G. d
不用于降低触电风险和有可能被试验电压击穿的components允许在实验中断开连接。为了达到试验的目的,可重新 ...
. b" _! A8 i, B- ~0 |/ f0 i$ i+ [" W
哥们,你这个还是很官方解读,可以通俗易懂一点不?或者举一个例子更好
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沙发
发表于 2021-12-3 16:20 | 只看该作者
不用于降低触电风险和有可能被试验电压击穿的components允许在实验中断开连接。为了达到试验的目的,可重新布置电路,以降低固态部件损坏的可能性,同时保持电路上原有的介电特性。

点评

哥们,你这个还是很官方解读,可以通俗易懂一点不?或者举一个例子更好  详情 回复 发表于 2021-12-17 17:23
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