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目前在测试一份适配器课题,有一个问题想请教大家。
1 h+ I( W, \* g7 k' y. P |2 Q设计初稿中,设定的RX与CX略大,导致时间常数T超过1s,不满足一次电路的电容放电要求。4 C. z. Q& L& [* ~
但得到反馈说,从EMC方面考虑他们并不想更改CX容值,所以将RX容值减小到了约1M Ohm。. v9 h; @+ o: J: G7 U
根据标准950,适配器的的L-N之间应当满足功能绝缘,那么我如何验证将RX减小后是否满足功能绝缘呢?& M: X% e8 V! j* n! |5 w! M
我量过L-N间爬电距离与电气间隙,满足要求。
. J% X& C7 E3 j: ^0 l, m! NL-N之间又没办法进行抗电强度测试(去掉Fuse的话,考察的是Fuse之前,那么对RX是否合格无法验证); W% l5 Z/ ~9 S' G/ E4 L
也不能在电路中直接对RX进行短路试验(RX由3个同等规格的电阻串联构成,尚未进行短接单个电阻试验); t6 q U, G ]* y$ y* P
- q" V# w7 N# w- b8 d5 I以上是对现象与个人分析的一些描述,希望各位帮忙解决疑惑,谢谢!
1 k8 v' M- ] M+ G% g我比较担心主要是同比参考065标准的话,L-N之间的RX不足2M Ohm,不满足初级绝缘电阻的要求。ITE 950中没有明文要求是不理会还是需要参考?
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