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[美洲灯具] 关于1598标准的理解

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楼主
发表于 2021-11-29 15:10 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
广东安规检测
有限公司提供:
各位大神,
. f4 |3 t, E8 A  s/ I( @# k" d              大家是怎么理解UL1598这18.16段话的?(我用红色标识了)# s; L% \; h5 g. [  Q
8 d0 s5 j2 j1 o8 p* \& _4 \

6 @, e- ^( i8 B$ u: @9 K( X& a3 b+ [+ y8 S
18.1 Dielectric voltage-withstand
0 H& k3 [) e3 b18.1.1 The dielectric voltage-withstand test apparatus shall be in accordance with Clause 19.20.8 Z4 \# }6 Z6 d, W9 L
18.1.2 A luminaire shall withstand for a period of 1 minute, without breakdown, a test potential applied2 X% E* G( ~" @7 a& S
between live parts and accessible non-current-carrying metal parts, including parts accessible only during& e' u& L1 S4 \
relamping.1 R, _7 F4 W3 F) T4 ~
18.1.3 The test potential shall be 1000 V AC for incandescent-type luminaires and 1000 V AC plus twice
; ^0 P+ S4 z0 q; Ithe rated input voltage for all other types of luminaire. The test may be conducted using a DC potential at+ m/ w, o7 V4 I8 U
1.414 times the AC potential denoted above.
& x+ @: O! @! V0 M  V5 [% l18.1.4 The applied potential shall be gradually increased from zero at a uniform rate until the required/ t2 `9 _  c( Y8 ?) s. }
test value is reached or breakdown occurs. During the test, any switches or other controls shall be in the
. Y' q( R& @1 C1 k1 r$ w/ dON position.
9 d, ]% K3 v% u& v1 {: N: x18.1.5 The test shall be performed on a fully assembled luminaire. Non-current-carrying parts or
( e: f3 k. W2 |0 `  J+ Gdecorative parts not likely to become energized shall not be required to be in place.' |/ S* [) \/ n# n3 S& T+ m+ \
18.1.6 Solid state components that are not relied upon to reduce the risk of electric shock and that can1 x2 V! X7 q% h( j
be damaged by the applied dielectric potential may be disconnected for the test. The circuitry may be0 e0 ~4 L" p. q
rearranged for the purpose of the test to reduce the likelihood of solid state component damage while
7 Z6 k6 B, R; n, I+ b- L/ v" Uretaining the representative dielectric stress on the circuit.
! e" X$ u+ R" v2 Q0 ~) [7 N7 }
' ]8 A# U9 v2 w- r) E# T
沙发
发表于 2021-12-3 16:20 | 只看该作者
不用于降低触电风险和有可能被试验电压击穿的components允许在实验中断开连接。为了达到试验的目的,可重新布置电路,以降低固态部件损坏的可能性,同时保持电路上原有的介电特性。

点评

哥们,你这个还是很官方解读,可以通俗易懂一点不?或者举一个例子更好  详情 回复 发表于 2021-12-17 17:23
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板凳
 楼主| 发表于 2021-12-17 17:23 | 只看该作者
Lt-maker 发表于 2021-12-3 16:20; B1 O/ D1 N% ]
不用于降低触电风险和有可能被试验电压击穿的components允许在实验中断开连接。为了达到试验的目的,可重新 ...

0 h9 v! M+ C: x9 T* i" u哥们,你这个还是很官方解读,可以通俗易懂一点不?或者举一个例子更好
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地板
发表于 2021-12-29 08:14 | 只看该作者
比如:耐压测试前,可以先把灯具上LED 灯板上的输入线(也就是LVLE/CLASS 2电源的输出线)断开,然后进行LN/E的耐压测试。
" @, m* t. g1 Z1 u注:阻容降压、线性方案以及其它非隔离电源是不可以断开的。
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5#
发表于 2021-12-29 08:27 | 只看该作者
耐压容易伤及到元件,但是又不依赖他来降低防触电的,比如很多信号处理IC,他可能打耐压会打坏,但是他对降低触电风险没有任何意义,那么,打耐压前可以把他断开来测试。
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6#
发表于 2022-1-4 13:24 | 只看该作者
多谢详细解说,明白了,谢谢!
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7#
发表于 2022-5-12 15:30 | 只看该作者
正好需要,学习了
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8#
发表于 2024-10-23 10:16 | 只看该作者
学习了,学习了
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