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[美洲灯具] 关于1598标准的理解

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楼主
发表于 2021-11-29 15:10 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
广东安规检测
有限公司提供:
各位大神,
* c3 x% h! R, ~2 _! N/ K( r              大家是怎么理解UL1598这18.16段话的?(我用红色标识了)
8 }7 b+ ^  e$ L- k; c" _8 Z8 X4 o: j4 X% z
3 \. K" |' Z  m' `* @& a

6 V) P+ s( i# S$ b4 `) M8 G18.1 Dielectric voltage-withstand
% @" ^" Q. N! H2 k: @8 p6 S7 F18.1.1 The dielectric voltage-withstand test apparatus shall be in accordance with Clause 19.20.
! _& m9 ]  u' G# }+ P$ u18.1.2 A luminaire shall withstand for a period of 1 minute, without breakdown, a test potential applied! a  G' L8 d6 h5 h6 k. Q
between live parts and accessible non-current-carrying metal parts, including parts accessible only during
% F, t+ `5 y/ s9 I( Yrelamping.: b# w! ?8 s; S, R6 s% X
18.1.3 The test potential shall be 1000 V AC for incandescent-type luminaires and 1000 V AC plus twice
  }3 b0 V* Y5 h4 sthe rated input voltage for all other types of luminaire. The test may be conducted using a DC potential at
7 d! A* H+ ]# ]2 J) t6 I& f1.414 times the AC potential denoted above.2 {+ e( J& u" C5 @4 e# v+ X# ~
18.1.4 The applied potential shall be gradually increased from zero at a uniform rate until the required
; S5 }/ M/ m/ i. Q) T/ p( ]test value is reached or breakdown occurs. During the test, any switches or other controls shall be in the+ J  J1 s( k( {% D' J0 Y: Y
ON position.
  }- Q5 `0 [% z# w3 K18.1.5 The test shall be performed on a fully assembled luminaire. Non-current-carrying parts or, b& ~4 E1 w) R( T, V
decorative parts not likely to become energized shall not be required to be in place.
- c/ A+ x% @0 x2 _( n" o/ p1 ^) r5 O7 c18.1.6 Solid state components that are not relied upon to reduce the risk of electric shock and that can
$ x& a$ }" k3 v2 y7 N4 cbe damaged by the applied dielectric potential may be disconnected for the test. The circuitry may be
; @3 O) }8 t* e* ]4 A0 Krearranged for the purpose of the test to reduce the likelihood of solid state component damage while2 E6 O! V2 K5 W, n0 N" b, ]
retaining the representative dielectric stress on the circuit.3 n9 b& F* i$ [4 p! Y1 Q' N
4 R" T6 c6 b, |. D* F
沙发
发表于 2021-12-3 16:20 | 只看该作者
不用于降低触电风险和有可能被试验电压击穿的components允许在实验中断开连接。为了达到试验的目的,可重新布置电路,以降低固态部件损坏的可能性,同时保持电路上原有的介电特性。

点评

哥们,你这个还是很官方解读,可以通俗易懂一点不?或者举一个例子更好  详情 回复 发表于 2021-12-17 17:23
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板凳
 楼主| 发表于 2021-12-17 17:23 | 只看该作者
Lt-maker 发表于 2021-12-3 16:205 s! ~9 i9 d' ?
不用于降低触电风险和有可能被试验电压击穿的components允许在实验中断开连接。为了达到试验的目的,可重新 ...
+ G* d9 C+ p5 H, [/ D7 c
哥们,你这个还是很官方解读,可以通俗易懂一点不?或者举一个例子更好
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地板
发表于 2021-12-29 08:14 | 只看该作者
比如:耐压测试前,可以先把灯具上LED 灯板上的输入线(也就是LVLE/CLASS 2电源的输出线)断开,然后进行LN/E的耐压测试。; V) O% ?1 F9 a' d4 |
注:阻容降压、线性方案以及其它非隔离电源是不可以断开的。
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5#
发表于 2021-12-29 08:27 | 只看该作者
耐压容易伤及到元件,但是又不依赖他来降低防触电的,比如很多信号处理IC,他可能打耐压会打坏,但是他对降低触电风险没有任何意义,那么,打耐压前可以把他断开来测试。
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6#
发表于 2022-1-4 13:24 | 只看该作者
多谢详细解说,明白了,谢谢!
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7#
发表于 2022-5-12 15:30 | 只看该作者
正好需要,学习了
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8#
发表于 2024-10-23 10:16 | 只看该作者
学习了,学习了
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