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[美洲灯具] 关于1598标准的理解

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楼主
发表于 2021-11-29 15:10 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
广东安规检测
有限公司提供:
各位大神,
: o/ Z: Q! u) D! R! `) O              大家是怎么理解UL1598这18.16段话的?(我用红色标识了). z0 P6 x! S0 c3 H( V" l& |

5 K( k2 x, B( G! G  g% G( s: R1 e) g. A5 E

# O7 a% B  m! H2 X- V# ^+ j18.1 Dielectric voltage-withstand
5 h, A; _1 ^+ V* `18.1.1 The dielectric voltage-withstand test apparatus shall be in accordance with Clause 19.20.
1 R- F, ~) H# }+ o' L; ^2 E" x18.1.2 A luminaire shall withstand for a period of 1 minute, without breakdown, a test potential applied! u# [! b& Q' ~/ |
between live parts and accessible non-current-carrying metal parts, including parts accessible only during
% |" ]. n7 E  Rrelamping.0 `: B+ @5 X: M
18.1.3 The test potential shall be 1000 V AC for incandescent-type luminaires and 1000 V AC plus twice
! _1 }. @+ I  U# l: ~* {the rated input voltage for all other types of luminaire. The test may be conducted using a DC potential at# y3 z, B6 ~( p; V7 S
1.414 times the AC potential denoted above.  \1 m! f/ ]! I; H# x# Y1 l
18.1.4 The applied potential shall be gradually increased from zero at a uniform rate until the required
5 A% @' U( Y$ s, b% c1 M2 D# h, mtest value is reached or breakdown occurs. During the test, any switches or other controls shall be in the" [: s1 d% F8 X/ ?
ON position.
4 Z+ l3 Y2 t; X6 s  m8 ~/ ?' f18.1.5 The test shall be performed on a fully assembled luminaire. Non-current-carrying parts or
. ^. A" e. b) w3 G( ~% jdecorative parts not likely to become energized shall not be required to be in place.
, h# {& [0 @3 m  o, ^18.1.6 Solid state components that are not relied upon to reduce the risk of electric shock and that can
! j5 R' y6 P8 A& K5 Bbe damaged by the applied dielectric potential may be disconnected for the test. The circuitry may be5 y; i" d7 x- S! b2 W/ P
rearranged for the purpose of the test to reduce the likelihood of solid state component damage while
7 a9 ^5 ^* r7 h; |; i& Q5 Wretaining the representative dielectric stress on the circuit.* H- Z# H4 [" W4 K. G& x  S

. t  J; k! B) I: D; f! g9 P
沙发
发表于 2021-12-3 16:20 | 只看该作者
不用于降低触电风险和有可能被试验电压击穿的components允许在实验中断开连接。为了达到试验的目的,可重新布置电路,以降低固态部件损坏的可能性,同时保持电路上原有的介电特性。

点评

哥们,你这个还是很官方解读,可以通俗易懂一点不?或者举一个例子更好  详情 回复 发表于 2021-12-17 17:23
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板凳
 楼主| 发表于 2021-12-17 17:23 | 只看该作者
Lt-maker 发表于 2021-12-3 16:200 f8 ^5 E% |# O$ n# L# W# ]
不用于降低触电风险和有可能被试验电压击穿的components允许在实验中断开连接。为了达到试验的目的,可重新 ...

& \; L* ^6 _# ^3 f( |: B: M哥们,你这个还是很官方解读,可以通俗易懂一点不?或者举一个例子更好
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地板
发表于 2021-12-29 08:14 | 只看该作者
比如:耐压测试前,可以先把灯具上LED 灯板上的输入线(也就是LVLE/CLASS 2电源的输出线)断开,然后进行LN/E的耐压测试。! M. I& U& v' n8 ^; [
注:阻容降压、线性方案以及其它非隔离电源是不可以断开的。
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5#
发表于 2021-12-29 08:27 | 只看该作者
耐压容易伤及到元件,但是又不依赖他来降低防触电的,比如很多信号处理IC,他可能打耐压会打坏,但是他对降低触电风险没有任何意义,那么,打耐压前可以把他断开来测试。
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6#
发表于 2022-1-4 13:24 | 只看该作者
多谢详细解说,明白了,谢谢!
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7#
发表于 2022-5-12 15:30 | 只看该作者
正好需要,学习了
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8#
发表于 2024-10-23 10:16 | 只看该作者
学习了,学习了
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