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[美洲灯具] 关于1598标准的理解

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楼主
发表于 2021-11-29 15:10 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
广东安规检测
有限公司提供:
各位大神,5 D2 w! F$ U, |+ ?9 b
              大家是怎么理解UL1598这18.16段话的?(我用红色标识了)
* ?$ _8 z% r2 l# n8 e# f* x, t  e: q! H% o+ Z  ~$ N0 U; U; k% y

6 A: v0 l) A; ]  S- b- a2 w3 a' B! c! G
18.1 Dielectric voltage-withstand
, T* m% U  z8 Q/ Z8 f18.1.1 The dielectric voltage-withstand test apparatus shall be in accordance with Clause 19.20.
# R1 J, Z% I7 X( z% W18.1.2 A luminaire shall withstand for a period of 1 minute, without breakdown, a test potential applied
* r" H5 b- K9 N& f, P1 ~between live parts and accessible non-current-carrying metal parts, including parts accessible only during3 X) g* _/ m' }# r9 z7 i
relamping.0 c; _( s2 T, O5 K6 K
18.1.3 The test potential shall be 1000 V AC for incandescent-type luminaires and 1000 V AC plus twice. b* {+ H% R1 ]6 j
the rated input voltage for all other types of luminaire. The test may be conducted using a DC potential at3 G- l) s$ }( i
1.414 times the AC potential denoted above.3 i# _) p7 o  \/ _3 b/ x1 _
18.1.4 The applied potential shall be gradually increased from zero at a uniform rate until the required
! E7 P; ^* J# X; qtest value is reached or breakdown occurs. During the test, any switches or other controls shall be in the$ ]8 q) }2 Z( \- m* E" F7 o$ s
ON position.
+ i/ o; R1 ^" ]% \$ ~18.1.5 The test shall be performed on a fully assembled luminaire. Non-current-carrying parts or
" @: F5 w: R- f# kdecorative parts not likely to become energized shall not be required to be in place.  W' V5 i( ~- F% r
18.1.6 Solid state components that are not relied upon to reduce the risk of electric shock and that can) e3 j6 |3 P9 t& L
be damaged by the applied dielectric potential may be disconnected for the test. The circuitry may be! Q4 D" y: ^( l/ l8 A
rearranged for the purpose of the test to reduce the likelihood of solid state component damage while
/ X5 S, W  X! l* V3 Fretaining the representative dielectric stress on the circuit.& z4 r  p: r" Y5 [7 p3 h5 V
6 @' u2 d' Z2 w7 E1 v( ]: h1 h
沙发
发表于 2021-12-3 16:20 | 只看该作者
不用于降低触电风险和有可能被试验电压击穿的components允许在实验中断开连接。为了达到试验的目的,可重新布置电路,以降低固态部件损坏的可能性,同时保持电路上原有的介电特性。

点评

哥们,你这个还是很官方解读,可以通俗易懂一点不?或者举一个例子更好  详情 回复 发表于 2021-12-17 17:23
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板凳
 楼主| 发表于 2021-12-17 17:23 | 只看该作者
Lt-maker 发表于 2021-12-3 16:207 a# s' K3 |! g
不用于降低触电风险和有可能被试验电压击穿的components允许在实验中断开连接。为了达到试验的目的,可重新 ...
" ^' m( k- ^) K! J
哥们,你这个还是很官方解读,可以通俗易懂一点不?或者举一个例子更好
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地板
发表于 2021-12-29 08:14 | 只看该作者
比如:耐压测试前,可以先把灯具上LED 灯板上的输入线(也就是LVLE/CLASS 2电源的输出线)断开,然后进行LN/E的耐压测试。
$ @/ |& Q1 ]. h( }, t9 }注:阻容降压、线性方案以及其它非隔离电源是不可以断开的。
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5#
发表于 2021-12-29 08:27 | 只看该作者
耐压容易伤及到元件,但是又不依赖他来降低防触电的,比如很多信号处理IC,他可能打耐压会打坏,但是他对降低触电风险没有任何意义,那么,打耐压前可以把他断开来测试。
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6#
发表于 2022-1-4 13:24 | 只看该作者
多谢详细解说,明白了,谢谢!
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7#
发表于 2022-5-12 15:30 | 只看该作者
正好需要,学习了
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8#
发表于 2024-10-23 10:16 | 只看该作者
学习了,学习了
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