技术交流 › 可靠性与性能测试 › 电子产品MTBF计算

liuweigold 发表于 2009-12-22 23:11

电子产品MTBF计算

附件为之前网上搜素到的资料，供大家参考

a049405 发表于 2009-12-23 07:55

看不懂，楼主要是能解说一下就好啦，谢谢！

radish 发表于 2010-1-8 17:00

很好的东西，谢谢楼主了。

legendlee 发表于 2010-1-19 10:07

下载看看,将来可能要用到.

ctterry 发表于 2010-12-21 23:12

先浏览下

山炮 发表于 2010-12-22 00:07

我只能解释这么多：
HAF和TAF是计算高湿和高温条件下寿命的加速倍率AF，Ea叫做激活能，K就是伟大的玻尔兹曼常数，使用这种方法的难处是Ea的确认。
举个例：对一般电子产品而言，多用高热加速。根据加速模型（Arrhenius Model），加速因子的表达式为：
AF=exp{(Ea/k)*[(1/Tu)-(1/Ts)]}
上式中对湿度影响忽略，这样试验室配置要求与试验成本要低得多。
式中：
Ea：激活能，这里取值为1.0eV；（其实我当时是............的，其实应为0.8eV，呵，呵，呵~）
k：玻尔兹曼常数，k=8.6*10E-5eV/K；
Tu：常态时的绝对温度，这里取值为30℃即303K，选取较高的常态温度是结合产品的预期使用条件确定；
Ts：加速态时的绝对温度，这里取值为60℃即333K；
经计算，AF=31.7
所以加速条件下，MTTF(不能修的应叫MTTF不叫MTBF)取值为200000小时，总的测试时间为778000h/AF=24516h。（778000h来自可靠性试验手册，置信度为60%，还是90%？我也不记得了）
若取30片进行试验，试验时间为24516h/30=817h=34天。
从上述计算结果表面上，MTTF取值为20万小时，取30片进行试验，常态下测试时间为25900h约三年。意味着每30片连续满负载工作三年，出现失效的不超过1片。
（搜索一下Arrhenius Model，有激活能选取的例子）

极品老工 发表于 2010-12-22 10:15

有用的东西总是让人晕。

ak523 发表于 2010-12-23 12:31

引用第6楼特级工程师于2010-12-22 10:15发表的:
有用的东西总是让人晕。
这话很经典

jindepin 发表于 2010-12-23 12:35

多多学习参与了

berry0512 发表于 2012-4-18 16:12

说的很清楚，不错。

查看完整版本: 电子产品MTBF计算