huiai 发表于 2022-4-1 11:46

IEC 62368-1 耐电压测试方法 ？

我司产品如下图 ：

http://bbs.angui.org.cn/data/attachment/album/202204/01/113404utv3s8ellig3gdlt.png

机构测试耐电压3000V（L、N极短路与USB输出或Type-C输出之间），出现光耦击穿，测试不合格 。

请教各位大神，机构这样测试是否正确？

另外线路板供应商提出的测试方法：是需要将USB与Type-C短路作为一极，LN短路作为一极，进行耐电压测试？

那种方法正确？标准IEC 62368-1 5.4.9条款也没有明确说明 。

请各位大神帮忙释疑，谢谢 ！

huiai 发表于 2022-4-2 08:14

大神在哪里？

af204 发表于 2022-4-2 08:45

方法应该没问题，都是把电源的LN短接作为一极，输出作为另一极

huiai 发表于 2022-4-2 08:49

本帖最后由 huiai 于 2022-4-2 08:50 编辑

af204 发表于 2022-4-2 08:45
方法应该没问题，都是把电源的LN短接作为一极，输出作为另一极
恩，是这样的。但是有两个输出口USB和Type-c ，这两个口是短路作为一极，还是单独一个输出口作为一极呢？

45550629 发表于 2022-4-2 09:17

huiai 发表于 2022-4-2 08:49
恩，是这样的。但是有两个输出口USB和Type-c ，这两个口是短路作为一极，还是单独一个输出口作为一极呢？

两个端口都需要打的，如果样品本身不行，打哪里都是会击穿的

huiai 发表于 2022-4-2 10:06

45550629 发表于 2022-4-2 09:17
两个端口都需要打的，如果样品本身不行，打哪里都是会击穿的

两个输出口短路作为一极，测试是可以通过的 。但是，单独对一个输出口，打3000V高压，就会出现击穿 。

rocknan 发表于 2022-4-6 08:23

本帖最后由 rocknan 于 2022-4-6 08:24 编辑

方法大致上沒錯
1, L/N to secondary (打 Double/ Reinforced )
   L跟N捆一起(做為一級) 打到 Secondary(2次側, ELV側, SELV側)
   Secondary 可以所有I/O port捆一起打, 也可以一個一個 I/O port 打
   打 Secondary I/O port 的時候, 如果I/O port 的GND pin 會造成 絕緣 降為 Basic
   哪就要把 GND pin 挑出來不要一起打 (這個很重要)
   好彼說: USB2.0 port 有4pins (pin1: 5Vdc, pin2,3: data pins, pin4: GND),
   很多人都會4個pin捆在一起當 Secondary 一起打
   但是 pin4: GND 可能是跟 一次側的 Earth 有連接, 導致 pin4: GND 對 L/N 是 Basic
   那 把 4個pin 捆在一起時, 等於是把 pin4: GND (Basic), 拿來試驗Double/ Reinforced的電壓
   要注意
2, L/N to plastic enclosure.
.
還有, 如果 3000Vac 打不過, 可以打4242Vdc 看看
有時候 AC電壓打不過, 但是DC電壓打得過
(那是零件特性問題)

huiai 发表于 2022-4-6 14:10

rocknan 发表于 2022-4-6 08:23
方法大致上沒錯
1, L/N to secondary (打 Double/ Reinforced )
   L跟N捆一起(做為一級) 打到 Secondary ...

OK , 谢谢您！

Berryang 发表于 2022-4-6 20:11

点赞 Rocknan
不过从图上看， 这个产品非CLASS 1 设备。 pin 4(GND) 没有可靠及低阻抗连接至 Earth.故3KVac or DC 不能PASS ，还是应判NG。

rocknan 发表于 2022-4-7 13:00

Berryang 发表于 2022-4-6 20:11
点赞 Rocknan
不过从图上看， 这个产品非CLASS 1 设备。 pin 4(GND) 没有可靠及低阻抗连接至 Earth.故3 ...

對阿, 如果 該注意的有注意到, 測試方法也沒錯, 那該是NG 就是NG , 哈~
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