power2008 发表于 2009-6-6 20:10

引用第18楼elvis0712于2009-04-15 17:35发表的:
並連的狀況不用考慮單一故障的情況，兩個分開來測跟兩個一起測，都需要符合要求

并联状态为何不考虑单一故障情况啊？

Richardzhu 发表于 2009-6-8 21:46

这个问题很有趣，我跟几个认证公司的同事确认过，但看法不太统一。
我建议两个并联电容的次级端连起来，然后用2kohm电阻串联测试。
也有些认证公司会单独选取每个电容做。

stey 发表于 2009-6-9 11:11

这两个电容量是不是相同, 并联后容值变大, 漏电流也大, 单个测试容值小,漏电流也小,取大值,而不是取小值.

zxgpy 发表于 2009-7-2 20:21

只能用一个，多用是浪费

elvis0712 发表于 2009-7-6 13:28

引用第20楼power2008于2009-06-06 20:10发表的:


并联状态为何不考虑单一故障情况啊？
並聯的情況下，代表每個Y電容兩端是分別跨於一次測與二次測，所以用的必須是Y1等級的電容，所以不必考慮單一故障情況

peter1715 发表于 2009-7-8 21:07

两个一起测试，断开其中一个进行测试

twobigseas 发表于 2010-1-31 19:39

如果是都Y1电容的话，不管短路或开路，那都是double fault了。我们这边的做法是把两个Y1电容分别单独测，然后把两个Y1电容的次级pin脚并联在一起，再串2K电阻测，分三种情况测。

望高手给出权威的做法。
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