vickydai 发表于 2009-3-4 20:04

请问下,1\\原副边间是两个Y1电容并联的,现在改为一个Y1电容,LCC测的值会变大还是会变小? (变小吗?)
            2\\原副边间是两个Y1电容并联的,现在改为一个Y1电容,Touch current 会变大还是会变小? (变小吗?)

AlexLuo 发表于 2009-3-6 09:11

我见过的做法是:
2个跨接初次级的Y1电容的次级pin脚单独引出来(即悬空),然后接在一起,再用228表测对地的漏电流,这是其中的一种测量方法。

狼行成双 发表于 2009-3-6 17:37

2个跨接初次级的Y1电容的次级pin脚单独引出来(即悬空),然后接在一起,串入2K电阻用视波器测试LCC

junpi 发表于 2009-3-6 23:43

本人认为应该单独用一个2K电阻与每个Y电容串联测量,两种情况都需要满足LCC

jimmy_liang 发表于 2009-3-7 17:20

我认为每种情况都要测试
单个单个的测试,还有就是两个一起测试。都有要满足LCC 的要求

wwwabcd 发表于 2009-3-9 06:47

两个一起测即可

wangwei 发表于 2009-3-9 16:37

两个一起测

bruce1982 发表于 2009-4-12 00:00

LCC测试需要考虑到单一故障的情况(见标准要求),所以需考到其中一个电容短路的情况。所用的两个电容的规格一定要一样。由于电容串联后等效的容值变小,所以在短路其中一个测试时,所测的电流会变大。

elvis0712 发表于 2009-4-15 17:35

並連的狀況不用考慮單一故障的情況,兩個分開來測跟兩個一起測,都需要符合要求

lao_xia 发表于 2009-4-15 18:18

引用第9楼kevin1946于2008-03-11 14:19发表的:
两个Y2电容并联跨接在原副边是不常见的,这样本身就可能不合理!
如果是两个Y1电容并联使用,把两个电容看成一个就可以啦!不需要短路其中的一个的!
那測試時是把兩個Y電容并起來測還是單獨做成兩次測呢?
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