vickydai
发表于 2009-3-4 20:04
请问下,1\\原副边间是两个Y1电容并联的,现在改为一个Y1电容,LCC测的值会变大还是会变小? (变小吗?)
2\\原副边间是两个Y1电容并联的,现在改为一个Y1电容,Touch current 会变大还是会变小? (变小吗?)
AlexLuo
发表于 2009-3-6 09:11
我见过的做法是:
2个跨接初次级的Y1电容的次级pin脚单独引出来(即悬空),然后接在一起,再用228表测对地的漏电流,这是其中的一种测量方法。
狼行成双
发表于 2009-3-6 17:37
2个跨接初次级的Y1电容的次级pin脚单独引出来(即悬空),然后接在一起,串入2K电阻用视波器测试LCC
junpi
发表于 2009-3-6 23:43
本人认为应该单独用一个2K电阻与每个Y电容串联测量,两种情况都需要满足LCC
jimmy_liang
发表于 2009-3-7 17:20
我认为每种情况都要测试
单个单个的测试,还有就是两个一起测试。都有要满足LCC 的要求
wwwabcd
发表于 2009-3-9 06:47
两个一起测即可
wangwei
发表于 2009-3-9 16:37
两个一起测
bruce1982
发表于 2009-4-12 00:00
LCC测试需要考虑到单一故障的情况(见标准要求),所以需考到其中一个电容短路的情况。所用的两个电容的规格一定要一样。由于电容串联后等效的容值变小,所以在短路其中一个测试时,所测的电流会变大。
elvis0712
发表于 2009-4-15 17:35
並連的狀況不用考慮單一故障的情況,兩個分開來測跟兩個一起測,都需要符合要求
lao_xia
发表于 2009-4-15 18:18
引用第9楼kevin1946于2008-03-11 14:19发表的:
两个Y2电容并联跨接在原副边是不常见的,这样本身就可能不合理!
如果是两个Y1电容并联使用,把两个电容看成一个就可以啦!不需要短路其中的一个的!
那測試時是把兩個Y電容并起來測還是單獨做成兩次測呢?