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引用第8楼xuexizhong于2011-05-07 21:39发表的 :
% x6 f4 A/ e, a0 X9 r7 w$ m# j; Q( j我认为标准在这点上是严谨的。
- S8 k! H- s) N- i2 r- m一:8.1.1模仿手指不能触及带电部件。考核时要施加20N的力,考核开口外壳的强度。1 p' I/ q* _+ I8 p8 Q% q b
二:Cl和Cr是用距离保证绝缘在电场作用下不能因为击穿而失效。
& s4 r$ c% T) ?7 p5 D三:Cl和Cr考核时是外壳施加力(30N),而不是在作用在手指上。2 [% q, |. w2 z S; M+ p5 Q. R4 q
四:依据IEC 60664(家电以该标准为基础对Cl和Cr进行规定), 测量Cl和Cr时,假设绝缘表面覆盖金属薄(锡箔纸)。
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, O4 K' _' p. l. c" X9 K% E第四点不太明白啊,为什么不能把手指伸到空里,再测CL?
/ ?. c( y. v, z0 [爬电距离是没意义了,因为没有表面可爬, 但电气间隙为什么不能测?+ h+ q% t% Y, t
$ X' m1 i5 _* j+ c% D! }+ ~0 E
比如: 器具的外壳固定螺钉是沉在螺钉孔里的, 螺钉因为靠近PCB,有可能带电, 实验指通过螺钉孔不能触及螺钉但能够靠近,而且靠近的距离非常小,有可能不满足29章的要求了.
! ~! v* y7 {7 u% p3 @8 `+ C这种情况下,难道不是把手指伸进去,再测指尖到螺钉间的距离作为CL吗? |
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