PDSH 1004 Use of the previous tested sample

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PDSH 1004 / F+ r8 D8 h# Q8 u0 n8 Y& F

Use of the previous tested sample ; @# d" R7 F6 G- j

17

61048(ed.2) 7 F. B$ ~+ }8 G. q

Standard(s):
8 V6 ]/ ^. n% H4 C0 N" G( AIEC 61048/2006
Subclause(s): 17
0 C; Z$ L* D8 G; {/ T4 @No. Year PDSH 1004 2010
Category: LITE Developed by: ETF5 OSM/LUM
/ x' t3 M7 |  H6 fSubject:
, f# R- A" `) @6 p. _! N7 OUse of the previous tested sample
Key words:
- Test time
- Destruction test
6 b3 x+ [" `9 I1 p5 s2 p- Proposal
To be approved at the 49th CTL Plenary Meeting, in 2012
, P( k$ h% A  gQuestion:
In order to reduce the test time and cost, would it be possible to perform the destruction test of § 17 on the
$ ?/ s$ j+ [- ~5 h7 L( A: [# u& csamples used for the IEC 61049 (clause 8), compliance?
Decision:
Yes.
6 T) b9 G: K, r0 y4 S0 K
  A# ?3 e  N) i7 i7 C& o" I% v. t) a7 N