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[美洲灯具] LED灯管耐压测试后还要求功能正常??

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楼主
发表于 2011-11-30 15:10 | 只看该作者 回帖奖励 |正序浏览 |阅读模式
广东安规检测
有限公司提供:
关于LED灯管的耐压测试,下面是datasheet中对于耐压测试后的描述,怎么还要要求功能正常呢?
. m& I/ x: [  F7 ^' z% w[x]    As a result of the sample examination after the test, it was noted the sample did  operate normally.
12#
发表于 2012-6-20 09:55 | 只看该作者
学习中~~~~
11#
发表于 2011-12-2 11:10 | 只看该作者
引用第6楼往事如烟于2011-12-02 08:30发表的  :
; ^3 g: M* k2 o) `* @% |/ d' j, k& R: Q6 p1 s
安规上要求功能不正常是可以接受的,对于消费者来讲,需要正常的产品,哪怕经过了耐压测试..
如果以对消费者非常负责的态度,是要做完测试功能正常,不过呢,做认证都是以最不利的条件来测试,像耐压,消费者用的时候基本上不可能加上个4000V的高压,一般都是在正常情况下使用没有什么问题。
10#
发表于 2011-12-2 10:45 | 只看该作者
引用第8楼jsspace于2011-12-02 09:47发表的  :
7 Y3 |7 P+ Q" I7 b. U$ r
( p) t$ [& z/ A1 H# Q) ~' b  x8 ^- Q5 |$ O& p* N6 D
晕,这个理解是不全面的,有些产品的能不能发挥其功能也是会影响到安全的,如:医疗设备-spo2分析仪,淋雨之后不但要求其能通过耐压测试,还要求功能正常。
% p9 t: h( d9 W
$ W+ z; w+ p: V& ]
呵呵,此处仅涉及照明产品,医疗设备没搞过。
9#
 楼主| 发表于 2011-12-2 09:47 | 只看该作者
引用第7楼badatong于2011-12-02 09:23发表的  :/ X$ H8 z- ]- ?& j
安规只管产品不伤人,产品有没有用管不着。
/ X5 @% D8 A$ ~5 y
晕,这个理解是不全面的,有些产品的能不能发挥其功能也是会影响到安全的,如:医疗设备-spo2分析仪,淋雨之后不但要求其能通过耐压测试,还要求功能正常。
8#
发表于 2011-12-2 09:23 | 只看该作者
安规只管产品不伤人,产品有没有用管不着。
7#
发表于 2011-12-2 08:30 | 只看该作者
引用第5楼tuzhenx于2011-12-02 08:16发表的  :
: R6 v6 Y& w: H那到底要不要做完耐压功能正常呢?一般的UL、TUV、PSE等等这些认证的时候是怎么规定的,有没有权威一点的说法
安规上要求功能不正常是可以接受的,对于消费者来讲,需要正常的产品,哪怕经过了耐压测试..
6#
发表于 2011-12-2 08:16 | 只看该作者
那到底要不要做完耐压功能正常呢?一般的UL、TUV、PSE等等这些认证的时候是怎么规定的,有没有权威一点的说法
5#
发表于 2011-12-1 11:55 | 只看该作者
引用第3楼jsspace于2011-11-30 16:17发表的  :
# x# Y# A- @- M+ Z. P; x# U我仔细的看了一下,datasheet上提到的是CSA的要求。
) a3 n( U3 x( f# U
CSA也这么要求,看来又多了一家。
8 z! _6 I; O% f9 g3 W- ALED这东西本身就比较脆弱(3.4V左右电压),现在还要求这么高,难做啊。
' y: x. O3 F. s看来UL 1993中有段话还是稍微人性点:. H  p! F2 s6 X  l( b6 C0 N
D.1.5 A device employing a solid-state component that is not relied upon to reduce a risk of electric shock
/ Z  d; H3 X9 ^9 Xand that can be damaged by the dielectric potential may be tested before the component is electrically2 G2 u6 ]2 w3 p' x  a- B  h
connected provided that a random sampling of each day’s production is tested at the potential specified3 m4 q* t6 q; ]9 j+ P6 F
in Table D.1. The circuitry may be rearranged for the purpose of the test to reduce the likelihood of1 I0 \5 m0 n# ]- R+ w
solid-state component damage while retaining representative dielectric stress of the circuit.
地板
 楼主| 发表于 2011-11-30 16:17 | 只看该作者
我仔细的看了一下,datasheet上提到的是CSA的要求。
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