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[IEC标准产品] 请问什么叫“累积的应力”

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发表于 2008-12-1 22:09 | 显示全部楼层 |阅读模式
广东安规检测
有限公司提供:
IEC 60335中' L7 B% R  H4 t+ Q3 Q9 R
5.2+ j' i( H$ x2 `+ r
NOTE 2 The cumulative stress resulting from successive tests on electronic circuits is to be avoided. It may be
/ ?9 v, L( T4 N; X6 a" J, e: o# Mnecessary to replace components or to use additional samples. The number of additional samples should be kept
, q( c1 d5 d) ^& y& bto a minimum by an evaluation of the relevant electronic circuits.7 h: }( s# ?- T! t% i% X8 G" ]* B
' z4 b! i) J+ s5 m8 ?
GB4706对应( [! X  S; Z& t
注2:应该避免在电子电路上连续试验造成的累积应力,必要时更换元件或使用附加的试样。应该使
* ]3 C6 R6 Q+ A7 l得评估各相关电子电路所需最少的附加试样数量。
! A, c/ T" T2 U0 t/ j7 o4 b" q6 Y; N# p
请问这里的cumulative stress (累积应力)是什么意思,能举个例子么?
发表于 2008-12-2 16:33 | 显示全部楼层
大家都知道所有元件都有一个基本的寿命,特别电子元件这种特别敏感的东西。; W$ {* X5 |  M+ T& f; N' k
在进行电子电路上进行试验时,很多时候会对某个或某几个元件造成超过其额定使用范围的压力,; |% e4 K/ [9 N/ L, A7 L: l8 T1 j( n
以电压和电容为例:4 v. I- {# F" ]8 s
一个额定工作电压为275 V的电容,在短路某部分电路进行试验时,可能造成其受压:350 V% W! w! ]% ?) i5 P6 R" y
这样来说,(电容不爆的话...)其使用寿命就会减少,
# H: F0 R% ]% i  ?7 [8 v% N3 m过流,过压都会造成应力
! M, m7 |2 @3 j7 p4 ^这就是所谓的累积的应力
发表于 2008-12-1 23:19 | 显示全部楼层
重复多次的话会影响测试结果
发表于 2008-12-1 23:10 | 显示全部楼层
试验要求破坏性试验只能保证一次,
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