冬季环温较低时，温升测试的K值和限制计算问题讨论

ylgc123 · 发表于 2015-12-17 08:31

①夏季环境高，一般降到24度左右开始做测试，部分带有T值的原件限值为T-25。K值是测试中的最高温度减去最低温度。
②冬季温度低，一般升到18度左右开始做测试，部分带有T值的原件限值为T-25。K值是测试中的最高温度减去最低温度。
那么夏季一个元器件限值（T105-25=80），温升值102℃-24℃=78K，是OK的。
到了东季一个元器件限值（T105-25=80），温升值102℃-18℃=84K，就F了。
但是元器件最高温度在24、还是在18℃时，测得值一般都是比较温度的，这种情况下大家觉得怎么处理好？
23±2 不是第三方实验室不太容易稳定，所以一般按照20±5范围进行。

liscsupor · 发表于 2015-12-19 09:39

从目前表述看，应按5.7规定“有疑问时，环境温度保持在23 °C ± 2 °C范围”进行试验。

yxd2008 · 发表于 2015-12-18 19:47

先看看你的问题是否成立？

ylgc123 · 发表于 2015-12-18 19:27

tf77587782 发表于 2015-12-18 11:36 u& }3 w/ Y6 X8 H2 s$ l! d
试验考核温升而不考核温度，就是为了测试部件的固有特性，而且通标5.7说了，试验是在无强制对流空气的场所进 ...

问了一圈，感觉只能升到23+/-2去复测下。:

tf77587782 · 发表于 2015-12-18 11:36

本帖最后由 tf77587782 于 2015-12-18 11:39 编辑

试验考核温升而不考核温度，就是为了测试部件的固有特性，而且通标5.7说了，试验是在无强制对流空气的场所进行。......若有疑问时，则环境温度保持在23℃±2℃。还有就是对样品的预处理，要保证样机的初始温度，这点也很重要。

槟榔 · 发表于 2015-12-17 14:16

说明这个产品的密封性好，散热条件差

martin_cheng · 发表于 2015-12-17 11:07

wjb0126 发表于 2015-12-17 08:59
" y+ d* y) B, \: j, ?3 a环温18和环温24测试条件下，温升试验中同一元器件的最高温度不会一样吧？

重新确认下吧，理论上说，环境温度不一样，测得最终稳定的温度也是不一样的。

wjb0126 · 发表于 2015-12-17 08:59

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wjb0126 wjb0126 当前离线积分 308 窥视卡雷达卡头像被屏蔽	沙发发表于 2015-12-17 08:59 \| 只看该作者提示: 作者被禁止或删除内容自动屏蔽
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