13.2泄漏电流（接触电流）测试铝箔纸放置位置探讨（ed5.1变化点）

ylgc123

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ed4.1版：13.2 泄漏电流通过用 IEC60990中图4 所描述的电路装置进行测量,测量在电源的任一极与连接金属箔的易触及金属部件之间进行。被连接的金属箔面积不得超过20cm*10 cm,并与绝缘材料的易触及表面相接触。
& L: K2 z8 ^3 Y6 t$ b3 N9 y --对Ⅱ类器具          0.25 mA

ed5.1版：13.2 对0类器具、 II类器具、 II类结构和 III类器具，使用 IEC60990中图4 所示的电路装置测量泄漏电流。对0I类器具和I类器具，C可由适用于器具额定频率的低阻抗电流表代替。

测量在电源的任一极和下述部件之间进行：

——对 I 类器具和 0I 类器具：打算与保护性接地连接的易触及金属部件；
——对0类器具、II 类器具、II类结构和III类器具：与绝缘材料的易触及表面接触、 面积不超过 20 cm×10 cm 的金属箔，以及不打算连接到保护性接地的金属部件
7 N! P) |9 S6 Z/ c6 i
. V9 Q5 i1 @+ A- I- r1 @7 d

--对Ⅱ类器具以及 II 类结构的部件   0.35mA 峰值

. ]2 n* Z& G5 Q

①ed5.1版本出来后，实验室内部针对泄漏电流的测试就将“I类器具”，及其上的“II类结构”进行了区分测试。需要进行2次单独测量。

②ed4.1版本的时候，将绝缘材料外壳与接地金属用铝箔纸接触后进行1次测量。

; y" v1 j6 `+ w: j7 s$ Z

疑问：1、哪位大咖知道标准为什么在5.1版本中将II类结构单独出来？？？

          2、理论来说ed4.1版本是不是将I类结构、II类结构的泄漏值叠加起来显示在我们面前？而5.1版本是单独分开的。？？

          3、目前大神们各自做泄漏的金属箔贴合方式是怎么样的？

baicaizfl

1. 如果不单独列出来，那classI产品的class II结构也可以直接用simpson 228或类似的电流表直接测，实际不行，还是要用figure 4网络去测试，所以要单列出来
+ N: s2 Y9 r, p+ f: ^9 x2. 标准是在不断的完善，4.2版本不管三七二十一全部合在一起用网络测试，5.0版本改为除0类、II类、III产品用网络测试其它产品可以直接用电流表测，5.1版本发现有问题，把II类结构单独拿出来说也要用网络测试
& {7 A0 ]8 Z7 N3 G3. 按照5.1版本的，0I类、I类产品接地金属不用金属箔，直接测试就好了，II类结构部分盖金属箔，0类、II类、III类产品全部用金属箔

ylgc123

baicaizfl 发表于 2018-10-19 15:09
1. 如果不单独列出来，那classI产品的class II结构也可以直接用simpson 228或类似的电流表直接测，实际不行 ...

$ F$ [8 A9 {5 J& {4 g今天下午再去查了60990，C-V-C出的ed5.0的分析，等资料：
( P$ l  c& B8 e: _/ y8 c) S  \①按照60990里的接触电流、保护导体电流分类：II类结构是接触电流，而I类器具是保护导体电流。
; Q+ r$ z. T5 _0 D8 ~1 }% K   接触电流的U2最高峰值/500Ω；
6 c: v$ \! s: h   保护导体电流是按照60990  8.3的说法，用一个0.5Ω安培表串进去测量即可。
   所以ed5.0的变化当时仅仅考虑了I类器具保护导体电流用低阻抗电流表来测量，没有考虑II类结构是接触电流的范畴。
& D7 v$ J+ C1 s0 G5 F" T   这也是为什么在ed5.0之后，泄漏电流限值有Pk和rms值的分别。
   【如果上述推论成立：Pk值变化原因，为什么II类结构单独出来，I类器具为什么不用网络都能解释】

& D* l$ c# T: [& g) z9 B②baicaizfl兄，我还是不明白II类为什么不能用228表，按照我上面的推论，228表用起来更合理才对。

zhongwen_lee

baicaizfl 发表于 2018-10-19 15:09
1. 如果不单独列出来，那classI产品的class II结构也可以直接用simpson 228或类似的电流表直接测，实际不行 ...

楼上的回答正解！

Rocket-He

baicaizfl 发表于 2018-10-19 15:09
1. 如果不单独列出来，那classI产品的class II结构也可以直接用simpson 228或类似的电流表直接测，实际不行 ...

  v) {; r2 W. g) \+ u: z3 ?1 ~总结的针针见血，很赞！

ylgc123

! L) x5 D- s" S! {/ P& y+ a) ^

baicaizfl 发表于 2018-10-19 15:09
, N. Y2 B2 `  g* f* L1. 如果不单独列出来，那classI产品的class II结构也可以直接用simpson 228或类似的电流表直接测，实际不行 ...

3 o! f% ?' P8 i/ r  Ybaicaizfl兄；
. d( l8 D. y& z7 @: b关于第1点，对228这个表不是特别了解，但是以前看UL的时候和229-2对比过。
( X! h' }+ a% Y+ L* A: N228中说明书的figure3中电路（react档），不就是60990中的图4吗？
228设计的时候针对的是IEC60950来设计的设备，测量出来U2后自己去除以500，为什么这个表就不能在CLASS II结构上使用？？？
( H& L; a( U4 f+ }% X
2 J' Z" c- z- X没理明白为什么228这个表就不能测II类结构。其他都回复非常ok，非常感谢~~
0 I; Q: Q& x$ v0 z# p是因为pk值和rms值的原因吗？这个应该也可以手动换算呀~
  f' h7 z- P- l' Y) L
另外，baicaizfl兄是否了解为什么IEC认为I类器具可以不用网络来测试？就算UL那边的家电，229-2表中还留有一套小网络。
& k5 D' u' k8 W/ f; u

baicaizfl

ylgc123 发表于 2018-10-22 17:08
今天下午再去查了60990，C-V-C出的ed5.0的分析，等资料：
3 P3 ?- h+ I6 q# T3 q8 p; F9 f①按照60990里的接触电流、保护导体电流分类： ...

) G# {' g+ v* P0 }4 @! A; M! q! q哈哈，前面写错了，造成误解了，228完全可以而且应当是一种仪器仪表用来测class II的漏电流，对于class I我是想说毫安表来着

vernal.meng

baicaizfl 发表于 2018-10-22 18:01
哈哈，前面写错了，造成误解了，228完全可以而且应当是一种仪器仪表用来测class II的漏电流，对于class I ...

6 n6 Z0 _0 f- ]$ O: f) W你好，对于I 类器具的可触及绝缘表面还是要用测试网络吧

人间庄严

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