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目前在测试一份适配器课题,有一个问题想请教大家。- V; x4 P" `3 F6 ]5 B; L! {
设计初稿中,设定的RX与CX略大,导致时间常数T超过1s,不满足一次电路的电容放电要求。
) @ U) N6 e( I+ [7 ?但得到反馈说,从EMC方面考虑他们并不想更改CX容值,所以将RX容值减小到了约1M Ohm。% _! x7 k# v3 A4 q" F% L
根据标准950,适配器的的L-N之间应当满足功能绝缘,那么我如何验证将RX减小后是否满足功能绝缘呢?
8 z9 U0 s% k0 M+ @5 F5 r1 z我量过L-N间爬电距离与电气间隙,满足要求。* e# x, y6 x0 U% j- B
L-N之间又没办法进行抗电强度测试(去掉Fuse的话,考察的是Fuse之前,那么对RX是否合格无法验证)
" F: V. u3 a6 q: h4 z也不能在电路中直接对RX进行短路试验(RX由3个同等规格的电阻串联构成,尚未进行短接单个电阻试验)
" R b, E" N+ F; u. R4 p- B- y/ I8 F! P; r
以上是对现象与个人分析的一些描述,希望各位帮忙解决疑惑,谢谢!
- n G, m, i2 `1 g5 {我比较担心主要是同比参考065标准的话,L-N之间的RX不足2M Ohm,不满足初级绝缘电阻的要求。ITE 950中没有明文要求是不理会还是需要参考?
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