I类器具，试验探棒B通过金属的开口可以触及到仅有基本绝缘保护的表面吗？

yearl · 发表于 2011-8-17 15:14

I类器具，试验探棒B通过已接地的金属防护罩的开口可以触及到仅有基本绝缘保护的表面吗？
8.1.1中说不能触及带电部件，而8.2仅适用于II类器具和II类结构。

我这里是I类器具，此处也不属于II类结构。

从道理上讲是不行的，可是从标准原文上怎么理解出不行啊？

345155116 · 发表于 2011-8-17 16:29

按标准理解：I类器具，且非II类结构，试验探棒B可触及仅有基本绝缘保护的表面。如果按LZ理解，那很多外壳是接地金属（基本绝缘）的器具就无法满足要求了

aaainmaya · 发表于 2011-8-17 17:14

如果必须碰到接地金属之后才能碰到内部的基本绝缘表面的话，是可以接受的。

Tigerxie · 发表于 2011-8-17 17:22

有学习到新东东了，谢谢了

josven · 发表于 2011-8-17 17:23

引用第2楼aaainmaya于2011-08-17 17:14发表的 :
) @0 \) R. P: D9 N$ ^! K. }如果必须碰到接地金属之后才能碰到内部的基本绝缘表面的话，是可以接受的。

是的，有相关的CTL决议的。

zhaoyang772 · 发表于 2011-8-17 17:30

学习拉

hankyen · 发表于 2011-8-17 17:50

可以吗?安全上到人体都是要双重保护的，可碰到基本绝缘的只有接地金属。

yearl · 发表于 2011-8-17 17:52

引用第4楼josven于2011-08-17 17:23发表的 :
0 X, f2 b4 z) V4 m, N6 |+ @
9 t- [+ O) y3 v% j8 T9 B4 n$ K是的，有相关的CTL决议的。

能不能共享一下啊？
让我们来学习学习。

hankyen · 发表于 2011-8-17 18:04

一般人体可碰到区域
1。SELV安全低电压
2. 接地金属
3。LCC 回路(高电压但是低电流)
4。一般外壳(没电)

yearl · 发表于 2011-8-18 11:07

那结论是不是就是
I类器具，试验探棒B通过金属的开口可以触及到仅有基本绝缘保护的表面
对吗？

按8.1.2用13号试验探棒也可以触及到仅有基本绝缘保护的表面。

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