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高温加速系数的确定. F* J; s0 A6 x5 \4 J: i3 G1 i
对一般电子产品而言,多用高热加速。根据加速模型(Arrhenius Model),加速因子的表达式为:
) o: O# {+ |$ tAF=exp{(Ea/k)*[(1/Tu)-(1/Ts)]}! Q# p: L5 j& ~, v9 l
上式中对湿度影响忽略,这样试验室配置要求与试验成本要低得多。9 M4 q! x: W0 A% R
式中:
: ]' V1 {" i# J& J+ FEa:激活能,这里取值为1.0eV;, Q: D& u& y% U$ Z2 I" g* R" ~
k:玻尔兹曼常数,k=8.6*10E-5 eV/K;" |$ ~! }1 E' m& }( x
Tu:常态时的绝对温度,这里取值为30℃即303K,选取较高的常态温度是结合产品的预期使用条件确定;/ U0 f' [; L+ O
Ts:加速态时的绝对温度,这里取值为60℃即333K;
( u; o, M& W8 p经计算,AF=31.79 q+ E" W; e/ T* y( `) N
所以加速条件下,MTTF取值为200000小时,总的测试时间为778000h/AF=24516h。
# @9 d! d8 J" r% j9 y若取30片进行试验,试验时间为24516h/30=817h=34天。
1 z; h% z7 A) [- N9 R5 L从上述计算结果表面上,MTTF取值为20万小时,取30片进行试验,常态下测试时间为25900h约三年。意味着每30片连续满负载工作三年,出现失效的不超过1片,这对于预期的使用寿命周期内约二至三年,并且大部分时间处于低负载状态,这要求也比较合适。经高温加速后试验时间缩短为一个月,生产单位可接受。 |
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