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[IEC标准产品] 请问什么叫“累积的应力”

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发表于 2008-12-1 22:09 | 显示全部楼层 |阅读模式
广东安规检测
有限公司提供:
IEC 60335中
/ `2 k9 H' o4 u5.2
, j+ U6 s* C3 C* B- T2 PNOTE 2 The cumulative stress resulting from successive tests on electronic circuits is to be avoided. It may be* k: H- ^: F( ?7 T0 Z
necessary to replace components or to use additional samples. The number of additional samples should be kept
7 @  L, |+ n7 ^9 H7 }7 J) Gto a minimum by an evaluation of the relevant electronic circuits.0 G+ `7 d3 Q$ l3 i
; h) y4 a5 {+ E( H! T" l3 q; z
GB4706对应* n, c" {( H' a- @; g- P
注2:应该避免在电子电路上连续试验造成的累积应力,必要时更换元件或使用附加的试样。应该使' _: k2 z# K# B: b& @
得评估各相关电子电路所需最少的附加试样数量。
3 m1 i+ b) l9 A5 i( O. R, V( p2 U) n  X( d/ o2 G) ~% H
请问这里的cumulative stress (累积应力)是什么意思,能举个例子么?
发表于 2008-12-1 23:10 | 显示全部楼层
试验要求破坏性试验只能保证一次,
发表于 2008-12-1 23:19 | 显示全部楼层
重复多次的话会影响测试结果
发表于 2008-12-2 16:33 | 显示全部楼层
大家都知道所有元件都有一个基本的寿命,特别电子元件这种特别敏感的东西。5 z; L+ m5 F* Y" K# E6 ~* l7 E5 N
在进行电子电路上进行试验时,很多时候会对某个或某几个元件造成超过其额定使用范围的压力,
' M8 u& r/ u0 X0 G0 N9 r2 E以电压和电容为例:
( n7 [- [) o8 h% R一个额定工作电压为275 V的电容,在短路某部分电路进行试验时,可能造成其受压:350 V
/ F" \7 S$ u! P9 u) C5 r9 l" v这样来说,(电容不爆的话...)其使用寿命就会减少,
" P4 G3 m. _' u' S5 {过流,过压都会造成应力. `  B8 A1 a, I
这就是所谓的累积的应力
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