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GB 15092.1-2003的个人疑问
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! W1 X1 x' g& d问题(以下简称Q),回答(以下简称A)
) N: J. v: l: `* q; e1 Q IEC 60384-14中的YZ级电容要求是什么?我去查了一下IEC 60384-14标准,没有YZ级电容这个说法。! T5 Z: K- l) c+ e0 l: g: |
0 h9 B0 k' S! w& p, P2 Q 9.3 除用于Ⅲ类器具的开关,操动件的易触及部分应由下列一种材料制成: , ]4 ~$ R& A/ d7 B/ `9 Z' ]" t4 v
b)由附加绝缘与基本绝缘零件隔开的金属 c)由双重绝缘或加强绝缘与带电部分隔开的金属: ]2 _% D7 i* V# g' y
依b)c)项来理解,器具开关的金属操动件一定要符合Ⅱ类结构?
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3 f. n, r$ N$ W4 H& y7 O3 e3 Q 16.2.2 k)试验期间(除触头以及与之有关联的载流件外)可能发热或影响端子温度的元件不通电。为什么?/ k- W q0 r2 W/ S. H7 Q
; W5 |2 t+ r) M" j8 i5 I# A4 Q 对于T85/55的开关的温升试验怎么进行?是不是将开关本体置于环境温度T85下,同时将操动件置于T55下进行试验,还是做两遍?又根据附录E,T55的开关,确定球压试验的温度时,75℃的温度值一般就不适用了,因为即使操动件的温升为0(一般不可能),球压温度也要20℃+55℃3 f# w1 G7 W3 H! K' p/ z; c3 _% n o
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5 Q 图18为发热试验电路图,试验电流为预期电流,实际接上开关时电流应该会减小,如果试验过程中,因导线发热和其他原因导致试验电流减小,能否将电流调高(调到多少?)但标准16.2.2l)中注:试验期间,注意试验电流需保持稳定。% `7 i9 h9 X3 a7 t7 H7 ?5 l* F
; ]6 A% E& r/ Y( F6 Q 双向开关的耐久试验怎么进行?是否两组触头都要考核?依据17.2.1.1中第4段,“表2中,辅助开关(A)在试验电路中作为替代物,对具有两个“接通”位置试样(S)的试验是在2组独*立的试样上进行的。”5 |7 A" i" G( ^* \# _
! I! ]. b z6 x5 V3 M. z7 Q 属7.1.13.4.2~7.1.13.4.5分类的多向开关按表16 多向开关的试验负载,怎么加载?$ ]: R- _# | R3 a2 J @3 W
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8 Q 16.3.3a)电子开关应按照制造厂说明安装并根据表4接上导线,接哪种规格?) Z* P% J! Y; e- A
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9 Q 依据11.1.2.4.5试验插片的插拔力时,试验持续时间为多少? % C+ a* Y# s! J5 z7 K2 g/ ]9 P) v
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10 Q 表15注b),以这种方式短路,允许以最大额定电流设计的端子、触头和其他部件承载最大额定电流,这句话怎么理解?
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0 {5 a1 x' s( G1 {' m11 Q 17.2.1.1中,不外接负载的电路和触头以其指明的负载运行,怎么理解?/ U( T# n4 W7 }4 W- d
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12 Q 12(1)A的负载是不是这样加:接通,12A,cosφ:0.60(+0.05);分断,≥0.90?/ T" u3 H- V9 Z7 o" m
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13 Q 20.1中穿透绝缘材料表面上的槽缝或开口的距离要测量到覆盖在表面上的金属箔。具体测量的时候,怎么操作?! Y4 A" L3 \$ v2 N. d0 Z. L
/ e/ u [& {9 f% p/ H$ V# f14 Q 20.1.2 工作绝缘的电气间隙应不小于20.1.1中对基本绝缘的规定值。! W: o4 S2 h, U1 t
通过测量来检验,必要时进行附录M的试验来检验
3 A* G- l1 I6 [9 ?9 N那么,工作绝缘的电气间隙的测量值如果比表22中规定值小,是否可以用附录M的脉冲耐压试验来代替?; i& y+ E# Q, K5 E
U$ b3 J) J) F3 K9 x; h9 b# f15 Q 20.1.5.2端子与端头之间的电气间隙应满足20.1.2的对工作绝缘的要求。端子与端头之间,怎么理解
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16 Q 23.1.1.1中将绝缘涂敷层两侧短路。什么是绝缘涂敷层的两侧?- z3 w1 ~/ @0 R7 `
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17 Q 24.1.1,如果流过熔断器地故障电流没有被限制在熔断器的分断容量上,那么熔断器的额定分断容量应至少为1500A。这句话怎么理解?
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18 Q 依据附录B,确定电气间隙和爬电距离的示意图。如果器具开关内有变压器,如果A和B直接连接电源(假设230V),C和D间电压为110V,那么A和B的电气间隙要求值为1.5mm,C和D的电气间隙要求值为0.5mm,这样对吗?- I% b4 i1 g( q3 d" ^
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