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标题: 测试手指与live part的距离是否要符合加强绝缘 [打印本页]
作者: woody05    时间: 2011-5-5 16:45
标题: 测试手指与live part的距离是否要符合加强绝缘
cl 8.1.1和cl. 8.2是否有点矛盾，
$ K5 M, B" d! d; _cl.8.1.1说测试手指不能碰到live part，
& H: N+ P% `/ x; ]cl.8.2 说测试手指和live part 要满足加强或双重绝缘2 f. {1 z" d1 q+ q% t1 [5 N+ r
: Q' M' P2 z, S3 i! r5 j
cl. 8.1.1的要求更松点，有cl. 8.2在，那么还有什么意义？
作者: 极品老工    时间: 2011-5-5 17:48
关键是判定开孔是I类孔还是II类结构孔。I类孔指的是碰触到基本绝缘时，试验指的指身是可靠地与接地金属接触，不接触就成II类孔，若碰触到基本绝缘，那就是不合格。
作者: 学学安规    时间: 2011-5-5 18:13
我觉得没有矛盾呀$ Y8 @( D9 N0 e- F$ d7 W4 K6 y1 L
8.1.1 针对性的是所有类型的器具. H" a# B5 h$ ^# K) G2 o
8.2 针对性的是二类器具和二类结构，因为二类器具或者二类结构没有接地，故而要求更高
作者: woody05    时间: 2011-5-6 16:19
好，就假定是I类开孔，测试手指的指身与接地金属可靠连接，
7 |) ]( c( o3 M8 H9 v' F测试手指碰不到live part，但是与live part的 Cr. 或 Cl.又不满足B.I.的要求，4 G- j# S, f8 z$ ?9 ?* L: \9 r
这种结构可以接受吗，如果不可接受，是不是就是cl.8.1.1的不严谨？
作者: 极品老工    时间: 2011-5-6 16:41
确是不够严谨。
作者: lpx0218    时间: 2011-5-6 16:47
是的
; O9 I4 K: p: v3 H6 k, u( @
作者: 安规007    时间: 2011-5-6 16:49
60950里面也有类似的问题，很纠结。
作者: herryhui    时间: 2011-5-6 18:09
测试手指与live part的距离是否要符合加强绝缘& \; V4 {0 p: W/ w: Q0 w& `
7 N. e: c- E  S  @) S# T* v
-----8.1上讲测试手指不能触到live part，这里无距离要求
: Y5 N6 }4 q. y0 E5 A1 L; j
7 F' v2 c' j' `) m－８．２讲的是ＩＩ类器具或ＩＩ结构要求，测试手指不能碰到基本绝缘。
作者: xuexizhong    时间: 2011-5-7 21:39
我认为标准在这点上是严谨的。: s% J. d7 Q0 @4 `+ F8 @
一：8.1.1模仿手指不能触及带电部件。考核时要施加20N的力，考核开口外壳的强度。
1 N" D8 Y) K8 G/ Z% b; Z二：Cl和Cr是用距离保证绝缘在电场作用下不能因为击穿而失效。" z% \0 U9 k/ j1 {0 E. y/ h- H
三：Cl和Cr考核时是外壳施加力（30N），而不是在作用在手指上。
, M/ C# Q6 {/ p( z: f2 A3 |9 y  J& e四：依据IEC 60664（家电以该标准为基础对Cl和Cr进行规定）, 测量Cl和Cr时，假设绝缘表面覆盖金属薄（锡箔纸）。
" J# z5 m1 [4 N& K) S而不是把测试手指伸到开孔内再测量测试手指与带电体的Cl和Cr，这种方法是不对的吧。应该测量锡箔纸与带电体的Cl和Cr。" m6 u+ f1 W1 e& u9 u8 R5 I
五：标准5.3要求测试安章节顺序进行。
作者: leahwan    时间: 2011-5-7 22:23
从多方面来考虑活动部件
作者: ajay    时间: 2011-5-8 01:12
引用第6楼安规007于2011-05-06 16:49发表的  :. T( ~6 ^5 `- O/ e2 Q6 q
60950里面也有类似的问题，很纠结。
950没有这个问题。楼主的例子（Cl & Cr< BI），950说得很清楚：在电压不超过1000V a.c. 或1500V d.c.时，对内部导体和试验指或试验针之间的空气间隙没有要求。
作者: 山炮    时间: 2011-5-8 19:46
纠结的是：标准似乎放弃了我们一截手指。
作者: killterry    时间: 2011-5-10 19:19
引用第11楼山炮于2011-05-08 19:46发表的  :
8 Q( I  f6 @: b# F纠结的是：标准似乎放弃了我们一截手指。
这位兄弟挺幽默的。
作者: zylyr    时间: 2011-5-12 10:13
引用第8楼xuexizhong于2011-05-07 21:39发表的  :
6 s% O3 ~# Z3 D2 l- _9 r1 [. A5 r我认为标准在这点上是严谨的。
9 s- \( j' |2 k& s, t. v一：8.1.1模仿手指不能触及带电部件。考核时要施加20N的力，考核开口外壳的强度。
' ]. i2 m8 O  j  c8 L  W5 C二：Cl和Cr是用距离保证绝缘在电场作用下不能因为击穿而失效。
4 p+ l8 g2 ?* d+ r5 |5 }; V* T三：Cl和Cr考核时是外壳施加力（30N），而不是在作用在手指上。% E1 a! B( ^; _6 O6 U
四：依据IEC 60664（家电以该标准为基础对Cl和Cr进行规定）, 测量Cl和Cr时，假设绝缘表面覆盖金属薄（锡箔纸）。
: @! \6 q' t$ X7 J2 s7 {.......
* ^  s+ a/ U/ f
# H, W/ ]- Y6 R" N4 Y
第四点不太明白啊,为什么不能把手指伸到空里,再测CL? - p) K% E. S& y, v, l+ U
爬电距离是没意义了,因为没有表面可爬, 但电气间隙为什么不能测?
7 D# \( o) M! T1 ^2 n  ^; D+ s5 U9 x
比如: 器具的外壳固定螺钉是沉在螺钉孔里的, 螺钉因为靠近PCB,有可能带电, 实验指通过螺钉孔不能触及螺钉但能够靠近,而且靠近的距离非常小,有可能不满足29章的要求了.
- k$ x6 m6 ?6 a) F, O" D这种情况下,难道不是把手指伸进去,再测指尖到螺钉间的距离作为CL吗?
作者: 山炮    时间: 2011-5-13 13:06
关于开孔的电气间隙与爬电距离测量的问题，在GB8898的图3中有一个说明（在注解处）。不妨看看。
作者: keith_chen    时间: 2011-5-13 21:55
引用第3楼woody05于2011-05-06 16:19发表的  :  P' ?; L' N6 z) z
好，就假定是I类开孔，测试手指的指身与接地金属可靠连接，
( `; X) x" u) m3 k; ?测试手指碰不到live part，但是与live part的 Cr. 或 Cl.又不满足B.I.的要求，
. U0 S( K' P# p, P8 d这种结构可以接受吗，如果不可接受，是不是就是cl.8.1.1的不严谨？
正是因为有这样的情况出现，所以才有29章的存在。这不是标准严谨不严谨的问题，每个章节要求不同，考核的对象不一样，一个条款就能完成所有的判断，那就不用整个几十页的标准了，一条标准就行了。
作者: david888    时间: 2011-5-15 19:07
引用第15楼AQ守望者于2011-05-13 21:55发表的  :
7 h) ~. Q# m: E% K, T3 m) T3 y/ q3 v$ o
正是因为有这样的情况出现，所以才有29章的存在。这不是标准严谨不严谨的问题，每个章节要求不同，考核的对象不一样，一个条款就能完成所有的判断，那就不用整个几十页的标准了，一条标准就行了。
同意楼上说的，标准的意思应该不是说器具满足了第八章，就不需要满足了后面的章节了。因为，对于不同的章节，考核和判定的侧重点不一样。
作者: xuexizhong    时间: 2011-5-16 20:50
顶 14楼  
作者: ko_god    时间: 2011-5-17 10:03
4706.1里面没有指明
作者: reddrogne    时间: 2011-5-20 22:31
8.1.1试验指与带电部件之间需要满足加强绝缘(2类)或基本绝缘(1类)的电气间隙和爬电距离的要求。与8.2并不矛盾. 8.1.2和8.1.3则没有距离的要求.



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