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标题: 这有一份关于内部电源检验的内容,供大家讨论一下 [打印本页]

作者: jiligo    时间: 2011-5-3 15:30
标题: 这有一份关于内部电源检验的内容,供大家讨论一下
这是一个关于医疗器械内部电源设备检验的分析,不知道对不对,想和大家交流下
作者: Andrew.Zhao    时间: 2011-5-3 16:16
Thanks
作者: 蓝白-白蓝    时间: 2011-5-4 00:01
提示: 作者被禁止或删除 内容自动屏蔽
作者: minglei    时间: 2011-5-14 15:59
如果内部带与应用部分(b-a)还是选择内部电压作为参考电压的,不过这是一般划分程b-e,参考电压为250V,高压一般为1500V。
作者: Aslan    时间: 2011-5-16 14:06
文中所述,B-a,B型应用测试AP-Live,怎么能测的过?测试一定是fail吧2 ~! X/ p! e9 `+ D

6 a& ~% Y' p$ z, J( q# iF型应用,泄露电流的大小取决于AP-外壳的绝缘,因此B-d 1500V  ok 即可(当然包括不能有电容桥接)6 j9 {; I6 J, \1 V- O

0 h) H, O/ H7 k0 Z6 d$ ]# a2 c至于B-a,在设备无外界信号口,或者信号口连接外部设备时,设备不可作为ME使用时," x& G8 I/ O. {* `% Q* D
可以不测;8 @; ?; N5 G8 s  q8 J0 q

% v5 d) o7 d) e5 r; i, s7 b; V实际上,我理解对于大多内部电源设备来说,B-a是可以不测的;除非设备使用时有外接信号口连接其他设备(比如PC),测试B-a要想通过测试,应用部分必须要有隔离
作者: Aslan    时间: 2011-5-16 14:08
上述思路其实可以参考2-47,只是2-47中考虑的设备外壳实际上是一个准应用部分,这个是其特别之处,5 S) g: ]8 ?8 v( M5 Y, b
但是上述的思路是可取的
作者: fanfei0428    时间: 2011-5-16 15:05
多谢~~
作者: Belle-ag    时间: 2012-11-7 13:57
谢谢分享
作者: 494886680    时间: 2012-11-10 16:42
好东西,顶!
作者: 微微1003    时间: 2015-7-29 11:17
谢谢分享
作者: thetengod    时间: 2015-8-18 14:54
thanks,谢谢分享
作者: qwert1213131    时间: 2015-11-5 15:28
好资料,感谢分享
作者: s3070448126    时间: 2015-11-9 14:08
谢谢 分享




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