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标题: IC Wire Bond X-Ray 检测结果解析 [打印本页]

作者: michaelchen    时间: 2010-5-1 21:15
标题: IC Wire Bond X-Ray 检测结果解析
附图为IC Wire Bond X-Ray检测结果,请专家协助解析造成Wire bond断裂的可能原因?
作者: gengjunmei    时间: 2010-5-4 09:40
一次炉断,还是二次断?7 J4 _. M0 o: u* _7 b# @+ q( b
黑胶耐温?" o; U6 f. k/ g) b2 u1 g; s
湿度对黑胶的影响?
作者: michaelchen    时间: 2010-5-6 22:11
产品在用户端使用近2年出现失效,分析结果为芯片有异常,对芯片分析发现金线断裂。




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