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标题: OTP保护的IC的产品申请UL时的疑问 [打印本页]

作者: yawei3138    时间: 2009-11-29 22:23
标题: OTP保护的IC的产品申请UL时的疑问
我的一个adapptor,在申请UL时候,要做过载测试,但是IC只有过温保护,而且内部集成了overload 的 soft start。
4 E2 |" E) G' y7 Q6 ~! }2 [针对这样的IC,申请时候该怎么办?
作者: Alexsong    时间: 2009-11-30 20:04
产品在过载时如果出现IC OTP,此种情况下UL会要求做以下测试:
5 W- P/ ]% _3 o; b3 L9 ]( |, ^1.取消IC的OTP保护功能, 再进行一次过载测试, 如果仍符合标准要求, 则OK;
# o) `8 m+ j* y- [/ Y2.按Annex C进行400小时的测试和按Annex K进行测试温控装置的测试;
$ _0 F: D6 Q3 d+ Q9 c7 i/ h, x; D& X/ `
所以建议你将产品的过流保护点调低, 让产品在OTP之前先OCP.




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