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标题: 异常测试元器件失效问题 [打印本页]

作者: feike008 时间: 2007-7-24 21:03
标题: 异常测试元器件失效问题
对EN60065,很基本的问题：为什么进行元器件失效测试时，大多都是进行元器件的短路而较少的开路？标准有说明吗？

作者: seasunsky 时间: 2007-7-25 07:42
rt

作者: clever 时间: 2007-7-25 10:30
如何理解 e) ?

作者: seasunsky 时间: 2007-7-25 10:42

引用第2楼clever于2007-07-25 10:30发表的 :
1 v7 o( K# e! b( I如何理解 e) ?

就是基极－发射极之类的三个极两两短路啊

作者: feike008 时间: 2007-7-25 11:40
[quote]引用第1楼seasunsky于2007-07-25 07:42发表的 :

对不起，我问的是65的标准

作者: barry 时间: 2007-7-26 11:25

引用第4楼feike008于2007-07-25 11:40发表的 :3 }. c& ~) H4 T" x* X, L, E
[quote]引用第1楼seasunsky于2007-07-25 07:42发表的 :- d1 Y( Y7 l+ _, G0 Q: R; M# l, a; u
; j1 Q) @. `3 c) c0 U- D
( f+ P/ l/ C1 x5 Z" }
对不起，我问的是65的标准

原理是一样的，

主要是考虑了元件失效后造成的后果严重度。。。

作者: ppl03 时间: 2007-7-26 11:44
二楼总版主果然利害

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