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标题: 13.2泄漏电流（接触电流）测试铝箔纸放置位置探讨（ed5.1变化点） [打印本页]
作者: ylgc123    时间: 2018-10-19 14:10
标题: 13.2泄漏电流（接触电流）测试铝箔纸放置位置探讨（ed5.1变化点）
ed4.1版：13.2 泄漏电流通过用 IEC60990中图4 所描述的电路装置进行测量,测量在电源的任一极与连接金属箔的易触及金属部件之间进行。被连接的金属箔面积不得超过20cm*10 cm,并与绝缘材料的易触及表面相接触。% O% V8 R+ A! g4 `  f( C+ ]. Z
--对Ⅱ类器具          0.25 mA
ed5.1版：13.2 对0类器具、 II类器具、 II类结构和 III类器具，使用 IEC60990中图4 所示的电路装置测量泄漏电流。对0I类器具和I类器具，C可由适用于器具额定频率的低阻抗电流表代替。
测量在电源的任一极和下述部件之间进行：
——对 I 类器具和 0I 类器具：打算与保护性接地连接的易触及金属部件；
% Y# h7 E' z, u4 S0 G9 u——对0类器具、II 类器具、II类结构和III类器具：与绝缘材料的易触及表面接触、 面积不超过 20 cm×10 cm 的金属箔，以及不打算连接到保护性接地的金属部件
0 ^8 R+ Z# d! X& A, I! m' i- C/ L. D# D7 N' E5 l$ m0 E3 j
--对Ⅱ类器具以及 II 类结构的部件   0.35mA 峰值
* e: I. g+ V" K7 |1 m9 \. _
①ed5.1版本出来后，实验室内部针对泄漏电流的测试就将“I类器具”，及其上的“II类结构”进行了区分测试。需要进行2次单独测量。
②ed4.1版本的时候，将绝缘材料外壳与接地金属用铝箔纸接触后进行1次测量。
- Y" `: m4 @) |
疑问：1、哪位大咖知道标准为什么在5.1版本中将II类结构单独出来？？？
          2、理论来说ed4.1版本是不是将I类结构、II类结构的泄漏值叠加起来显示在我们面前？而5.1版本是单独分开的。？？
          3、目前大神们各自做泄漏的金属箔贴合方式是怎么样的？
作者: baicaizfl    时间: 2018-10-19 15:09
1. 如果不单独列出来，那classI产品的class II结构也可以直接用simpson 228或类似的电流表直接测，实际不行，还是要用figure 4网络去测试，所以要单列出来
/ u6 ]  H7 v3 b2. 标准是在不断的完善，4.2版本不管三七二十一全部合在一起用网络测试，5.0版本改为除0类、II类、III产品用网络测试其它产品可以直接用电流表测，5.1版本发现有问题，把II类结构单独拿出来说也要用网络测试1 Z# v0 H8 N' b7 e$ O2 `# v# [) o
3. 按照5.1版本的，0I类、I类产品接地金属不用金属箔，直接测试就好了，II类结构部分盖金属箔，0类、II类、III类产品全部用金属箔
作者: zhongwen_lee    时间: 2018-10-19 16:41
baicaizfl 发表于 2018-10-19 15:09
0 b0 |4 y& m/ C, x1. 如果不单独列出来，那classI产品的class II结构也可以直接用simpson 228或类似的电流表直接测，实际不行 ...
1 Q; Z5 B, L# \  G
楼上的回答正解！
作者: Rocket-He    时间: 2018-10-19 22:05
baicaizfl 发表于 2018-10-19 15:09
# Q/ [" ?2 G( C) l1. 如果不单独列出来，那classI产品的class II结构也可以直接用simpson 228或类似的电流表直接测，实际不行 ...

) q, Z# x. m  c/ d* F# L总结的针针见血，很赞！
作者: ylgc123    时间: 2018-10-22 10:47
本帖最后由 ylgc123 于 2018-10-22 11:32 编辑 2 [) s) e8 R+ h. U# [7 k+ c7 t+ o
baicaizfl 发表于 2018-10-19 15:09# }4 i6 |. A. |5 G
1. 如果不单独列出来，那classI产品的class II结构也可以直接用simpson 228或类似的电流表直接测，实际不行 ...

  @5 A) v  h" B8 k: E/ Qbaicaizfl兄；
  ?$ g7 ^. N* K% ?关于第1点，对228这个表不是特别了解，但是以前看UL的时候和229-2对比过。& A7 n% `. Y: _0 U* }0 r
228中说明书的figure3中电路（react档），不就是60990中的图4吗？: P+ v/ G- `- [5 M% w0 |
228设计的时候针对的是IEC60950来设计的设备，测量出来U2后自己去除以500，为什么这个表就不能在CLASS II结构上使用？？？
) n5 d2 u) G: {/ H( b# O- M. G/ b; u7 T' M
没理明白为什么228这个表就不能测II类结构。其他都回复非常ok，非常感谢~~
2 S: i/ P. {: l/ S* s( F5 t# L是因为pk值和rms值的原因吗？这个应该也可以手动换算呀~, o5 S( z8 A, d5 ^; D4 S( f& v

' C/ P# r* T7 \( ]$ |另外，baicaizfl兄是否了解为什么IEC认为I类器具可以不用网络来测试？就算UL那边的家电，229-2表中还留有一套小网络。! _  j# p7 G6 }; l; A7 N
作者: ylgc123    时间: 2018-10-22 17:08
baicaizfl 发表于 2018-10-19 15:09
3 ^. Q2 B  ^; j3 q( a2 `1. 如果不单独列出来，那classI产品的class II结构也可以直接用simpson 228或类似的电流表直接测，实际不行 ...
( Y# _  w6 ^8 k( z
今天下午再去查了60990，C-V-C出的ed5.0的分析，等资料：' E" s7 P* K* Y) P6 ~: k
①按照60990里的接触电流、保护导体电流分类：II类结构是接触电流，而I类器具是保护导体电流。
! w, d* ]5 N3 l9 l   接触电流的U2最高峰值/500Ω；
& l+ b5 H2 C) S6 J8 Y   保护导体电流是按照60990  8.3的说法，用一个0.5Ω安培表串进去测量即可。7 q) @. N/ M1 g( N/ L1 o7 ?# N
   所以ed5.0的变化当时仅仅考虑了I类器具保护导体电流用低阻抗电流表来测量，没有考虑II类结构是接触电流的范畴。
+ B+ l; [8 |  ~7 h; R( c6 d0 a  e   这也是为什么在ed5.0之后，泄漏电流限值有Pk和rms值的分别。/ b% C: y3 \4 l6 ~: H2 r
   【如果上述推论成立：Pk值变化原因，为什么II类结构单独出来，I类器具为什么不用网络都能解释】( e6 ^4 `2 ]6 v) ]" ~: d/ G$ C% f- ^
) y3 @4 z. h' Z& Z4 u
②baicaizfl兄，我还是不明白II类为什么不能用228表，按照我上面的推论，228表用起来更合理才对。
作者: baicaizfl    时间: 2018-10-22 18:01
ylgc123 发表于 2018-10-22 17:08
. u2 x" \! q! G/ D5 O今天下午再去查了60990，C-V-C出的ed5.0的分析，等资料：
  z0 {2 t/ T0 k3 v①按照60990里的接触电流、保护导体电流分类： ...
1 E6 n% \9 \* {, B& j/ F  M, m
哈哈，前面写错了，造成误解了，228完全可以而且应当是一种仪器仪表用来测class II的漏电流，对于class I我是想说毫安表来着
作者: vernal.meng    时间: 2019-11-14 09:18
baicaizfl 发表于 2018-10-22 18:01
# l+ T+ Y: x3 l哈哈，前面写错了，造成误解了，228完全可以而且应当是一种仪器仪表用来测class II的漏电流，对于class I ...
  d& Y9 ?% d+ I  p+ Q
你好，对于I 类器具的可触及绝缘表面还是要用测试网络吧
作者: 人间庄严    时间: 2022-10-18 10:20
有用，受用，已截图打印出保存



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