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标题: 请大家举几个安规与EMC相互矛盾的例子 [打印本页]

作者: yuan459003    时间: 2017-2-24 22:03
标题: 请大家举几个安规与EMC相互矛盾的例子
请大家举几个安规与EMC相互矛盾的例子6 e% P3 B! [5 `4 h; R5 @! f# _

作者: 热爱学习    时间: 2017-3-1 20:34
1. TNV-2, TNV-3线路在PCB板上走线时需绕开地层或割地,EMC一般要求尽量避免绕线或通过铺地层来抑制辐射4 ~5 ~9 N9 r7 n
2. 电源初次级通常要放Y电容来抑制传导干扰,而Y电容通常会增大接触电流1 _7 V$ P* p8 |8 I- \
3. 史密斯电路电容通常要求满足2KV耐压,容值较小,为抑制共模传导干扰通常需用大容量电池,大容量电池通常又难以满足2KV耐压
0 N6 y! t2 }, z& c9 _) i+ U
4 O$ |; {) d3 f2 d
作者: rick.xiao    时间: 2017-3-14 13:24
以元器件为例:X电容的选择 - 针对1MHz以内的开关电源较明显
. T8 y0 D  p/ p4 p9 a' p: w# i+ x# W: h; D% [3 I( Y2 I* d
EMC:增大X电容的容量,可以解决差模干扰的EMI整改的不少问题;
  I7 N$ k4 ?  z& Q4 X  u' u安规:增大X电容的容量,会导致电容放电测试更恶劣。
作者: rick.xiao    时间: 2017-3-14 15:08
以元器件为例:Y电容的选择 - 针对20M-30MHz的低频开关电源电路
0 i: q, k* S/ i% y& v2 X9 d
' J2 V& v* k+ Y1 T8 [) DEMC:增大Y电容的容量,可以在一定程度上对频段干扰抑制有些改善;% k  O2 {+ K7 n8 S- k" r3 N
安规:增大Y电容的容量,接触电流测试时效果会一定程度上变差。
作者: jansle_happy    时间: 2017-3-14 15:21
哇,高手,学习了
作者: zrs716    时间: 2017-4-19 17:33
路过,来学习了
作者: -Sam-    时间: 2017-4-26 16:07
学习了~




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