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标题: 电源产品如果有2个Y电容(桥接电容)并联,如何做LCC [打印本页]
作者: hy925    时间: 2008-2-26 20:30
标题: 电源产品如果有2个Y电容(桥接电容)并联,如何做LCC
电源产品如果有2个Y电容(桥接电容)并联,如何做LCC
作者: zhangkun1984    时间: 2008-2-26 20:52
如果将一个Y电容短路,并传入一个2000欧姆的电阻,这样能符合LCC吗?这样的电路结构合理吗?
作者: polo    时间: 2008-2-26 22:09
我认为要两个一起测试，从第二个电容的pin脚处测量，两个电容看成一个。
作者: 嘻嘻    时间: 2008-2-27 09:22
没见过并联用两个Y电容的.
作者: barry    时间: 2008-2-27 09:51
引用第0楼hy925于2008-02-26 20:30发表的 电源产品如果有2个Y电容(桥接电容)并联,如何做LCC :

5 T) @, `' d$ W) n要考慮到Y電容的失效，如短路/開路。
7 g* S/ t. `' |/ G- I; V
: j7 Z' F0 e1 ^2 b( Q也就是需要在短路其中一個Y電容（應該是Y2電容）後測試LCC，之后，在開路其中一個Y電容後測試LCC。
作者: barry    时间: 2008-2-27 09:52
引用第3楼嘻嘻于2008-02-27 09:22发表的  :0 T* g1 A& S3 u2 b3 H3 E
没见过并联用两个Y电容的.
$ K3 G/ E! q, c3 _( j3 |
兩個Y2電容在開關電源輸入輸出電路間並聯使用還是比較常見的。
作者: 嘻嘻    时间: 2008-2-28 17:23
长见识了.以后要注意点了
作者: 安规王子    时间: 2008-3-10 23:01
那要是在一二次侧间的两个Y电容并联，我要是短路其中一个，肯定会炸掉的啊。
作者: 嘻嘻    时间: 2008-3-11 08:53
不会的呀?Y电容本来就是做为一个EMC电容用的,不影响产品性能
作者: kevin1946    时间: 2008-3-11 14:19
两个Y2电容并联跨接在原副边是不常见的，这样本身就可能不合理！
6 m" d! }) S& v3 k! s* H6 ?如果是两个Y1电容并联使用，把两个电容看成一个就可以啦！不需要短路其中的一个的！
作者: vickydai    时间: 2009-3-4 20:04
请问下,1\\原副边间是两个Y1电容并联的,现在改为一个Y1电容,LCC测的值会变大还是会变小? (变小吗?): B2 h3 H9 ~6 H* V, e
              2\\原副边间是两个Y1电容并联的,现在改为一个Y1电容,Touch current 会变大还是会变小? (变小吗?)
作者: AlexLuo    时间: 2009-3-6 09:11
我见过的做法是：3 ~0 Q  K( g  V; Q
2个跨接初次级的Y1电容的次级pin脚单独引出来（即悬空），然后接在一起，再用228表测对地的漏电流，这是其中的一种测量方法。
作者: 狼行成双    时间: 2009-3-6 17:37
2个跨接初次级的Y1电容的次级pin脚单独引出来（即悬空），然后接在一起，串入2K电阻用视波器测试LCC
作者: junpi    时间: 2009-3-6 23:43
本人认为应该单独用一个2K电阻与每个Y电容串联测量,两种情况都需要满足LCC
作者: jimmy_liang    时间: 2009-3-7 17:20
我认为每种情况都要测试
) O6 o6 p" N! M9 ?单个单个的测试，还有就是两个一起测试。都有要满足LCC 的要求
作者: wwwabcd    时间: 2009-3-9 06:47
两个一起测即可
作者: wangwei    时间: 2009-3-9 16:37
两个一起测
作者: bruce1982    时间: 2009-4-12 00:00
LCC测试需要考虑到单一故障的情况（见标准要求），所以需考到其中一个电容短路的情况。所用的两个电容的规格一定要一样。由于电容串联后等效的容值变小，所以在短路其中一个测试时，所测的电流会变大。
作者: elvis0712    时间: 2009-4-15 17:35
並連的狀況不用考慮單一故障的情況，兩個分開來測跟兩個一起測，都需要符合要求
作者: lao_xia    时间: 2009-4-15 18:18
引用第9楼kevin1946于2008-03-11 14:19发表的  :% r( S* E0 e$ D5 u
两个Y2电容并联跨接在原副边是不常见的，这样本身就可能不合理！4 Y! M( X: L8 o, l8 q
如果是两个Y1电容并联使用，把两个电容看成一个就可以啦！不需要短路其中的一个的！
那測試時是把兩個Y電容并起來測還是單獨做成兩次測呢？
作者: power2008    时间: 2009-6-6 20:10
引用第18楼elvis0712于2009-04-15 17:35发表的  :1 Q8 X: I# T, R
並連的狀況不用考慮單一故障的情況，兩個分開來測跟兩個一起測，都需要符合要求
* B, w4 f6 p' l$ c- C- n  j5 O) F/ I
并联状态为何不考虑单一故障情况啊？
作者: Richardzhu    时间: 2009-6-8 21:46
这个问题很有趣，我跟几个认证公司的同事确认过，但看法不太统一。
; p, L+ v2 I6 w3 ~  F; K, C我建议两个并联电容的次级端连起来，然后用2kohm电阻串联测试。: T; `& y  h* I9 _" h" \1 g! L
也有些认证公司会单独选取每个电容做。
作者: stey    时间: 2009-6-9 11:11
这两个电容量是不是相同, 并联后容值变大, 漏电流也大, 单个测试容值小,漏电流也小,取大值,而不是取小值.
作者: zxgpy    时间: 2009-7-2 20:21
只能用一个，多用是浪费
作者: elvis0712    时间: 2009-7-6 13:28
引用第20楼power2008于2009-06-06 20:10发表的  :
3 Z+ Z( h  y/ C- {/ ?1 x) q) T! @4 f0 h9 I$ v( u; B8 O- w
. e2 B; d5 k2 {
并联状态为何不考虑单一故障情况啊？
並聯的情況下，代表每個Y電容兩端是分別跨於一次測與二次測，所以用的必須是Y1等級的電容，所以不必考慮單一故障情況
作者: peter1715    时间: 2009-7-8 21:07
两个一起测试，断开其中一个进行测试
作者: twobigseas    时间: 2010-1-31 19:39
如果是都Y1电容的话，不管短路或开路，那都是double fault了。我们这边的做法是把两个Y1电容分别单独测，然后把两个Y1电容的次级pin脚并联在一起，再串2K电阻测，分三种情况测。1 q3 {; ?2 Y# T% _! I# M/ A$ O/ ?
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望高手给出权威的做法。



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