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标题: IEC60601-1 edition 3.1中的原理解释：8.7.2 [打印本页]

作者: bonjovi521 时间: 2015-9-25 11:11
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作者: lxxcumt 时间: 2015-10-9 09:14
因为某些情况下很难短路，尤其对那些BI和SI紧密结合在一起的DI结构，所以标准在泄露电流测试的单故障条件中将”短路DI的部分绝缘“ 排除了。

另外rational 中说的很清楚了，”短路DI中的一部分“可能会提高泄露电流，大概是2倍的数量级。但是单故障T条件下的泄露电流的限值是正常条件下泄露电流限值的5倍，基于此，就算做了了这个测试并不能提供啥有用的信息（然并卵），再加上某些情况下测试很难执行，所以就被标准排除了。

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