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标题: 元器件短路故障 [打印本页]
作者: xiaokai1238809    时间: 2015-8-4 17:04
标题: 元器件短路故障
各位大侠：在做元器件短路故障测试时，短路U1两个引脚，引起电流和功率都上升，这种情况下是否也要做温升测试？
$ O. X. b. i7 `1 `
- s/ y4 `% f3 b  X( [& e5 p5 e
作者: Nezof    时间: 2015-8-4 17:05
是的，异常温升
作者: 热爱学习    时间: 2015-8-4 17:07
Nezof 发表于 2015-8-4 17:05
0 i; E5 c; z1 X6 M0 f" Q是的，异常温升
" Y2 d$ e5 D. L% ~* Y$ f7 g. b
是不是所有元器件的SNF都要去跑温升？还是只有那些会引起功率或温度上升的才测？
作者: lucyyff    时间: 2015-8-4 17:19
理论上芯片的引脚是不需要短路的，因为芯片本身就是一个集成电路，里面具体是怎么样的你也不知道，短路后电流增大，你可以看下保险丝的熔断电流是多少，最终产生的后果保险丝是否会爆掉以及是否产生危害等等，温度不在考虑范围，具体可以参考61347，元器件短路故障只是一个评估危害性的测试
作者: Nezof    时间: 2015-8-4 17:19
热爱学习 发表于 2015-8-4 17:07 ' p3 R, ?# r7 h
是不是所有元器件的SNF都要去跑温升？还是只有那些会引起功率或温度上升的才测？

/ Q4 y9 B/ a* p9 S* V( H2 f你的后半句就是答案
作者: xiaokai1238809    时间: 2015-8-4 17:33
lucyyff 发表于 2015-8-4 17:19 % g3 D+ ]2 y5 s! N0 \4 O0 {
理论上芯片的引脚是不需要短路的，因为芯片本身就是一个集成电路，里面具体是怎么样的你也不知道，短路后电 ...
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功率增大，但是电流还不足以让保险丝爆掉，也没产生其他危险，这种情况下判定是pass，并且不用做温升，是这样理解吗？
作者: xiaokai1238809    时间: 2015-8-4 17:35
Nezof 发表于 2015-8-4 17:19
4 i( v8 ~, {- G! i" ]9 c+ Y你的后半句就是答案

& {. T- s2 c8 n- e1 y+ F7 C# n0 @5 k还是要测温升？只测那些短路引起功率增大的元器件？
作者: Nezof    时间: 2015-8-4 18:00
lucyyff 发表于 2015-8-4 17:19
0 E, k; O$ r  G1 j! N& M理论上芯片的引脚是不需要短路的，因为芯片本身就是一个集成电路，里面具体是怎么样的你也不知道，短路后电 ...
' r% p* y- c& I* X7 g0 o* e7 L, S
标准没说短路半导体元器件？
作者: Nezof    时间: 2015-8-4 18:01
xiaokai1238809 发表于 2015-8-4 17:35 / I. x- U1 O* g" [
还是要测温升？只测那些短路引起功率增大的元器件？

' y* a& Q1 E7 C参考异常温升限值表里那些要求
作者: lucyyff    时间: 2015-8-5 10:05
Nezof 发表于 2015-8-4 18:00
  y( ~0 l8 R* |  g# y) L标准没说短路半导体元器件？

  `+ w3 S( J2 @* j" w! x- C# L标准里只说适用的才短吧，灯具电路里标u的一般都在控制电路里，就算短了也只是某一功能的缺失
作者: jsspace    时间: 2015-8-5 11:38
短路半导体元器件，结果导致功率增加，我个人不同意这种情况下要测试温度，我们需要回归到标准，短路测试的判断条件是什么？ 无非就是带电部件不能变成可触及，没有可燃性气体产生，绝缘阻抗OK。这里并没有提到温升的问题。
作者: xiaokai1238809    时间: 2015-8-5 11:54
jsspace 发表于 2015-8-5 11:38 * b7 I# s/ L; r' \+ Y
短路半导体元器件，结果导致功率增加，我个人不同意这种情况下要测试温度，我们需要回归到标准，短路测试的 ...

1 C4 p, X2 H( U# O# o版主，这种情况下功率增加，一些元器件的温度肯定会高于正常温升测试的值，如果超过限值，也不需要考虑温升吗？ 我还是有疑惑，望解答
作者: jsspace    时间: 2015-8-5 12:10
xiaokai1238809 发表于 2015-8-5 11:54 # e3 b5 i) ^* @4 G( G. f+ r
版主，这种情况下功率增加，一些元器件的温度肯定会高于正常温升测试的值，如果超过限值，也不需要考虑温 ...
  c( v7 `3 `! x2 E
我认为不用考虑，如果要考虑，请找出条款。
+ I; v' [8 k1 n6 W7 l1 B, P7 w# c我跟UL沟通了这个问题，UL不考虑的。
作者: xiaokai1238809    时间: 2015-8-5 13:46
jsspace 发表于 2015-8-5 12:10 7 h1 E9 A. ?9 S" N# m4 x% x5 n1 x) j2 s
我认为不用考虑，如果要考虑，请找出条款。 ; z9 X0 h& U" N' j( s$ \/ n  H/ V
我跟UL沟通了这个问题，UL不考虑的。

( ^7 v: f: z+ D5 g2 Q, y谢版主指教
作者: 贾加加    时间: 2022-7-25 15:55
jsspace 发表于 2015-8-5 12:10
6 x. d0 L- m( ^# R$ G我认为不用考虑，如果要考虑，请找出条款。
7 ]1 M  R. c. S8 Q0 g8 ]. J# H  j我跟UL沟通了这个问题，UL不考虑的。
9 M7 s  z6 C3 {0 t* ?
为什么我们之前测试UL认证，UL工程师那边说短路测试只要机器没有保护，还在运行，就都需要跑温升呢？求解答。
作者: zyhua1985    时间: 2022-10-19 10:56
是的，要做



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