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标题: 前期如何确定LED性能优劣？ [打印本页]
作者: gmr24185    时间: 2014-11-26 10:59
标题: 前期如何确定LED性能优劣？
比较偏的一个话题：3 U6 U* J: s% X6 X3 {6 X
很多工厂都使用国产（或台湾）ＬＥＤ芯片和国内封装厂封装的ＬＥＤ光源。这些光源在工厂研发阶段的实验很难发现问题，通常也不能产品研发出来点上个一年在出货，常常在产品出货以后出现死灯的客诉。0 K1 X0 v# _9 E) S& M8 U
有没有什么合适的实验能查出有质量隐患的光源？
+ X6 ]( k( Y- T5 i3 _( D5 n( h
作者: Nezof    时间: 2014-11-26 11:55
其实是有专门分析芯片的实验室，就是看看金相做做切片后看看芯片的里面的结构以及涂覆荧光粉后的结构
" x: H# p0 _" e" D/ R$ z5 a2 [4 t  s
不过费用谁来付呢？
作者: berry0512    时间: 2014-11-26 11:56
可靠性测试
作者: gmr24185    时间: 2014-11-26 13:41
本帖最后由 gmr24185 于 2014-11-26 13:42 编辑
* b! q+ O% z" `
berry0512 发表于 2014-11-26 11:56
% ~1 s% \5 {- Z' @  e1 v可靠性测试
- r# s9 g% B" ^; Z( E

8 J6 x5 d( T' ^) c亲我知道叫可靠性试验，有没有具体点的项目，以5050封装光源为例？
" `$ J; q/ T9 L* m8 n# M  H我们自己目前做的测试是高低温冲击-40-100℃，100周期。
( h$ @; u. N# p
作者: kevinli    时间: 2014-11-26 20:58
gmr24185 发表于 2014-11-26 13:41 3 o. }- f; d; ^: r0 x6 |) }
亲我知道叫可靠性试验，有没有具体点的项目，以5050封装光源为例？
2 V0 [: `3 B# M% M) c- ]: l- O我们自己目前做的测试是高低温冲击 ...

& U3 Z& k9 L+ m) a# [& H-40~100  高低温保持时间30min 转换时间120S？
作者: gmr24185    时间: 2014-11-27 08:02
kevinli 发表于 2014-11-26 20:58
* u" `$ p: K' v' q# F. E-40~100  高低温保持时间30min 转换时间120S？
" L6 J. X; W; Z/ u/ m
是的，抄的LED封装厂的规格书后面的测试规范。
作者: Eko    时间: 2014-11-27 20:26
这东西很难控制的，最好的方法我想只能去供应商工厂参观，看他们的作业规范；或做一些市场比对吧, C) ~. [, s6 o, V. W
作者: bluewinks    时间: 2014-11-27 21:22
我觉得在工厂有些会导致这样的情况，例如耐压，就会不坏，也会有软损伤，最好是用好的灯珠，我公司都是用三星、首尔这样的灯珠厂家，质量有保证
作者: 梁小生    时间: 2014-11-28 10:58
如果是贴在灯条上可以做些震动测试。
作者: fs3357    时间: 2014-11-29 09:02
金相做做切片后看看芯片的里面的结构
作者: koo310    时间: 2014-12-1 10:23
做实验那真的是花钱，小公司都耗不起，一般去他们公司参观下，看看他们分级后的操作如何？包装是否真空包装，在生产中看LED是否有发黄，分层类异常！
作者: cnh06870    时间: 2014-12-3 09:12
为了这个事情我也伤脑经啊，没有找到相关的标准:'(:'(



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