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标题: 关于温升测试应该点哪里?? [打印本页]

作者: louiswing    时间: 2013-2-1 11:30
标题: 关于温升测试应该点哪里??
关于温升测试点,本人现在比较迷茫!
: d) R7 v( j; U4 c9 `0 l标准中要求测试的点如:PCB板,电源开关等,我们都没有要求测试,
$ k, \$ S0 J, m+ c5 @5 V. y我们要求测试的点是一些发热量比较大的芯片,以及外壳,但是对于芯片的温升限值,好像标准中又没有明确的给出来。# W5 w  _2 T9 c. s7 y
这就让我很困惑,这种做法到底是不是对的?- Y' o5 `) O8 z5 o; _4 y  o
请各位大牛多提点意见,或者说说大家目前的温升测法也可以,感激不尽!~3 G' h& O4 C" V3 B; m8 m& S

作者: y5257942    时间: 2013-2-1 12:16
坐等楼下大神!
作者: 山炮    时间: 2013-2-1 12:55
测量芯片是关心它会引起安全问题,还是关心它的性能。
作者: louiswing    时间: 2013-2-1 16:13
山炮 发表于 2013-2-1 12:55 2 P4 r! \) V8 b& p
测量芯片是关心它会引起安全问题,还是关心它的性能。

2 K4 H! W1 }3 S5 Z; @主要关心的是性能。但是限值不是很好确定!- o2 X- ~$ [0 _  m% m
另外,请问如果从安规标准的要求来进行测试,不过的概率是不是很小?
( c9 f, J3 w4 B5 r& }; ]& x就我目前知道的来说,很少听到不过的!
作者: 山炮    时间: 2013-2-1 16:25
高科技电子零件,越热越短命,相关关系可以参考阿伦尼斯模型。
作者: louiswing    时间: 2013-2-1 16:31
山炮 发表于 2013-2-1 16:25
1 B7 Q+ x  X- c/ z4 Q高科技电子零件,越热越短命,相关关系可以参考阿伦尼斯模型。
; f- q* t& ~: ]' q6 X, F
谢谢指教!阿伦尼斯模型我是第一次听到,回去查查先!
# }3 f( @3 Z0 K( b1 H. m, L( W我们之前是考虑芯片寿命问题,所以一直关注的都主要是芯片,并且制订了一些限值要求!
4 y) ]4 c5 t4 Z- _" M* ~' X并因此忽略了如PCBA,开关电源等部件的测试,因为从认证的方面来说,我还没怎么听说温升有不过的情况,请问这么做的风险大不大?
作者: ronald0925    时间: 2013-2-6 17:26
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作者: mutou217    时间: 2013-7-18 17:52
这个关注应该不是性能,应该是安全吧
作者: sky0805    时间: 2013-12-9 16:44
一般我都會取重要零件去做溫升測試,例如:CPU, power, inductor, capacitor, MOS等..." @8 d6 _7 q0 k1 K) F+ T# d% j
當然PCBA以及外殼也最好加測...
8 h. a) R  d  \7 v: J4 b' x一般來說判定 Pass or Fail我會依照重要零件的specification作為依據..." v& m3 P6 d  [- \/ @

作者: wpcily    时间: 2013-12-10 16:34
放错板块了?还纳闷EMC咋关心起温升了...
作者: sinopecy    时间: 2014-4-25 16:35
关键是看楼主做的是什么产品
作者: Dy2019    时间: 2022-5-7 17:02
学习到了
作者: zyhua1985    时间: 2022-10-19 10:56
赞就一个字!
作者: 浪漫罗丹    时间: 2024-10-12 17:10
标准有温度限值(或者关键元器件有T rating)的地方都需要去考核




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