hzwanglei 发表于 2011-11-12 21:04

山炮 发表于 2011-11-13 00:59

零部件的话可参考GB/T1772-1979《电子元器件失效率试验方法》，已作废，但服从的统计学原理是一样的。
成品设备的话可以参考一些原电子工业部的产品标准，很多都会有。GB5080《设备可靠性试验总要求》很难应用。

jaden 发表于 2011-11-14 15:39

ragnar 发表于 2012-1-11 16:39

可以用电解电容的寿命来粗略的估算一下

bluefairy 发表于 2012-1-12 16:54

ragnar 发表于 2012-1-11 16:39 static/image/common/back.gif
可以用电解电容的寿命来粗略的估算一下

MTBF给电容的寿命是两码事

qianjinzhong 发表于 2012-2-5 17:56

MTBF的计算好像很困难，一般应用上比较少，像通讯类整机产品怎么计算？求教

jsspace 发表于 2012-2-10 11:46

举一个最简单的列子给你。
10个样品，工作100个小时后，有两个FAIL。
那么MTBF=(10*100)/2=500小时

山炮 发表于 2012-2-10 13:07

赠过期作废标准一份。

berry0512 发表于 2012-4-18 15:55

给出目标值，加速因子计算AF=exp,

kingau2012 发表于 2012-5-18 11:30

我也在找啊 ，电解只是一部分，MTBF是全部器件的寿命评估，公式很复杂，可是大客户都会要的
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