五岳盟主 发表于 2007-10-9 19:19

david888 发表于 2007-10-9 19:56

呵呵。
一般的产品都会有一个测试周期，不用太担心。
我以前有做过AV类的测试，其实大致的故障试验就是那么几个。
在做温升实验的时候就得跑去做其它实验并整理数据，这样会比较快。
另外，可以向工厂多要些样品，就可以在同一时间对样品分开进行故障测试。
而且，有些故障测试的结果是可以预料的，比如会烧保险之类的。几秒钟就算OK了。

五岳盟主 发表于 2007-10-9 20:34

david888 发表于 2007-10-10 10:38

是啊。
当然因产品的不同具体在进行试验时也会有不同，我说的是大致的故障测试都差不多。

suuny_yang 发表于 2007-10-10 13:51

看标准吧,4.3章写的很详细的

安规菜鸟 发表于 2007-10-10 15:39

是呀,标准已经写得算比较清楚啦.我觉得故障试验中比较麻烦的就是元件失效,要分析电路,还要重复做很多元件.

barry 发表于 2007-10-10 15:47

引用第5楼安规菜鸟于2007-10-10 15:39发表的:
是呀,标准已经写得算比较清楚啦.我觉得故障试验中比较麻烦的就是元件失效,要分析电路,还要重复做很多元件.

對電路比較熟悉的話，abnormal test 不是很難，選出關鍵點就行了。

如果電路不熟的話，那就麻煩了。。。

安规王子 发表于 2008-3-13 23:30

我觉得麻烦的是做完了每个异常测试都要测TOUCH CURRENT ，很费时间。

barry 发表于 2008-3-15 16:17

引用第7楼安规王子于2008-03-13 23:30发表的:
我觉得麻烦的是做完了每个异常测试都要测TOUCH CURRENT ，很费时间。

是要测“electric strength”吧。

每次异常测试后必须要用“electric strength”来检验的。

秋飘风叶 发表于 2008-3-18 16:58

引用第6楼barry于2007-10-10 15:47发表的:


對電路比較熟悉的話，abnormal test 不是很難，選出關鍵點就行了。

如果電路不熟的話，那就麻煩了。。。

我对一些开关电路也不太熟悉，所以每次做的时候IC那一块都做得马虎，真难啊。
页: [1]
查看完整版本: 关于AV类产品的故障试验