要精确的回答这个问题，需要你提前反馈以下问题：
1你的产品耳机部分的高压测试结果？
2耳机部分的漏电流测试结果？
假设上述部分确实是不合格，可以考虑以下整改方案：
1 修改音频插头结构；
2修改耳机结构。
当然了，阴阳互换maybe 能够解决你的问题，但不肯定； 我们一款产品的耳机也是遇到了类似的问题，测试耐压和漏电流均能通过，但工程师还是要求耳机的B-d要达到IEC60601的要求（Cr≥4.0mm，CI≥2.5mm），请问1楼的大侠：你所说的修改耳机结构怎么改呀？ 回2楼：
如果按照标准的漏电测试方法（对地，对外壳，对患者，应用部分加压等）进行测试后，漏电流的测量结果满足标准要求范围，则我认为测量机构的工程师的“不符合56.3c）”的理由是站不住脚的！
56.3c）是说“与患者有导电连接的导线上的连接器应...........”，如果人体漏电流符合要求，则构不成标准说的“与患者有导电连接”的定语，即：不能用这个条款来判定你的产品为不合格。
但应注意：因为耳机电路部分是患者电路，还应注意该部分的隔离要求。
回3楼：
你的问题和楼主不一样，B-d是指：F型应用部分与I/O部分外壳间的CR,CL不符合要求了，和连接器结构没有太大关系。
修改的方法很简单也很悲惨：
1就是增大耳机内部的距离。
2修改你的应用部分的工作电压，越小越好。 谢谢，整改的确挺悲惨的 ，我们整改的思路也和你提到的差不多。还想请教你一下：在这边耳机的外壳是应用部分，还是属于包括I/O部分的外壳？
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