feike008 发表于 2007-7-24 21:03

异常测试元器件失效问题

对EN60065,很基本的问题：为什么进行元器件失效测试时，大多都是进行元器件的短路而较少的开路？标准有说明吗？

seasunsky 发表于 2007-7-25 07:42

rt

clever 发表于 2007-7-25 10:30

如何理解e)    ?

seasunsky 发表于 2007-7-25 10:42

引用第2楼clever于2007-07-25 10:30发表的:
如何理解e)    ?
就是基极－发射极之类的三个极两两短路啊

feike008 发表于 2007-7-25 11:40

引用第1楼seasunsky于2007-07-25 07:42发表的:


对不起，我问的是65的标准

barry 发表于 2007-7-26 11:25

引用第4楼feike008于2007-07-25 11:40发表的:
引用第1楼seasunsky于2007-07-25 07:42发表的:


对不起，我问的是65的标准

原理是一样的，

主要是考虑了元件失效后造成的后果严重度。。。

ppl03 发表于 2007-7-26 11:44

二楼总版主果然利害
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