先进可靠性分析导论
目录：先进可靠性分析导论
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┣第一部分 概述
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┃┣1.可靠性工作的目的
┃┣2.可靠性工作的理论基础
┃┣3.可靠性工作的核心途径
┃┣4.可靠性分析的入手点
┃┣5.研究失效问题的工具
┃┗6.可靠性数据
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┗第二部分
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┣第一讲：失效分析概论
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┃┣1.基本概念
┃┣2.失效分析的定义和作用
┃┣3.失效模式
┃┣4.失效机理
┃┗5.一些标准对失效分析的要求
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┣第二讲：分析技术及设备
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┃┣1.失效分析程序
┃┣2.非破坏性分析技术
┃┣3.半破坏性分析技术
┃┣4.破坏性分析技术
┃┗5.分析技术与设备清单
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┗第三讲：失效分析典型案例
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┣电路设计缺陷引起的失效
┣CMOS IC闩锁效应失效
┣ESD—静电放电损伤失效
┣过电损伤失效
┣电腐蚀失效
┣污染
┣机械应力损伤失效
┣热结构缺陷引起过热失效
┣材料缺陷案例
┣工艺缺陷案例
┣寿命失效
┗小结
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