sky0805 发表于 2021-4-26 09:10

4.5.2 温度试验 应当选择适用于元器件和设备结构的材料,使得在正常负载下工作时,温度不会超过本部分含义范围内的安全值。 对工作在高温下的元器件应当有效地屏蔽或隔离,以避免其周围的材料和元器件过热。 通过对材料数据表的检查以及测量和记录温度来检验其是否合格。
GB 4943.1 温度试验问题. 请教各位大神,GB 4943.14.5.2 温度试验中,提到“工作直至温度稳定”,温度变化每小时不超过1K,则已达到稳态条件。
2.10.9 热循环试验 如果2.10.8.2,2.10.10或2.10.11有要求,那么使用下述热循环顺序。 元器件或组件的一个样品承受如下顺序的试验。对于绝缘有安全要求的变压器,磁耦合器和类似装置,在进行热循环处理时,绕组之间以及绕组与其它导电零部件之间应当施加频率为50Hz~60Hz,电压为500V有效值的试验电压。 样品要承受下列顺序的温度循环10次: T1±2°C          68h 25°C±2°C         1h 0°C±2°C         2h 25°C±2°C   不少于1h T1=T2+Tma-Tamb+10K,按1.4.5和1.4.13有关方法测得的温度或85°C,选其较高者。但是如果温度是通过内置热电偶或电阻法测得的,则不加10K的余量。 T2为4.5.2的试验期间测得的部件温度。 Tma和Tamb符号的定义在1.4.12.1中给出。

小部66 发表于 2021-4-26 13:41

sky0805 发表于 2021-4-26 09:10
4.5.2 温度试验 应当选择适用于元器件和设备结构的材料,使得在正常负载下工作时,温度不会超过本部分含义 ...

你好,我用的4943.1-2011版本,真没找到1K的说法,请解答一下,谢谢。

z00217809 发表于 2021-4-30 17:49

标准上有规定

wwx882555 发表于 2021-6-29 13:45

学习了,谢谢。

flyingorange 发表于 2021-8-11 18:34

1小时内变化不超1k
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