关于光耦内部电气间隙与爬电距离的测量
有关光电耦合器内部的电气间隙和爬电距离的测量以及限值,我已经纠结了2年了。各位大侠,求指点!我之前有剥开过。但是,看了里面的结构,无从下手!能发图看看吗? 看技术规格书 管它呢,耐压过了就没眼看。什么零件都拆解研究,我们可不是超人。
链接中的开关,用在音频功率放大器上,爬电距离和电气间隙只有1mm,人家3C审查专家说了,有CQC认证,可以用。这也行?就是行!功放证书都到了,想改个安全点的,嘿,还不行。
http://bbs.angui.org/home.php?mod=space&uid=101630&do=blog&id=249 受教了! 山炮 发表于 2013-6-22 09:45 static/image/common/back.gif
管它呢,耐压过了就没眼看。什么零件都拆解研究,我们可不是超人。
链接中的开关,用在音频功率放大器上, ...
零部件的电气间隙和爬电距离必须满足GB8898的要求。
开关单体通过CQC没问题,因为单体认证时并不清楚零部件的应用场合和方式,这个电气间隙和爬电距离应该在整机中考核。 就是光耦中初次级导体延两种不同绝缘材料结合处的电气间隙和爬电距离,如果你能画出这个光耦的侧剖图,那么这个路径就比较清楚了 山炮 发表于 2013-6-22 09:45 static/image/common/back.gif
管它呢,耐压过了就没眼看。什么零件都拆解研究,我们可不是超人。
链接中的开关,用在音频功率放大器上, ...
想请问一下是否耐压过了,爬电距离与电气间隙就没必要测试了。
他们之间到底有什么关系呢。 可乐娃娃 发表于 2014-2-12 16:30 static/image/common/back.gif
想请问一下是否耐压过了,爬电距离与电气间隙就没必要测试了。
他们之间到底有什么关系呢。
看下60664 光耦有证书啊,VDE/CQC证书都会有距离啊
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